158660
No cover
Book
In basket
Podstawy metrologii / Jan Ciepłucha. - Wyd. 2 rozsz. i zm. - Łódź : Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, 2008. - 288 s. : il. ; 24 cm.
(Podręczniki Akademickie / Politechnika Łódzka)
Sygnatura czytelni BMW: IV K 78(1806)
Availability:
Biblioteka Międzywydziałowa
Copies are only available in the library: sygn. M 11298 N (1 egz.)
Notes:
General note
Na grzb. kolejny nr wydaw. PŁ: 1806.
Bibliography, etc. note
Bibliogr. s. 269-271. Indeks.
The item has been added to the basket. If you don't know what the basket is for, click here for details.
Do not show it again

Deklaracja dostępności