Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w warstwie wierzchniej materiałów

Book

In basket

Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w warstwie wierzchniej materiałów / Kazimierz Kowalski. - Kraków : Wydawnictwa AGH [Akademii Górniczo-Hutniczej], 2009. - 105, [1] s. : il. ; 24 cm.

(Rozprawy, Monografie / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie, ISSN 0867-6631 ; 200)

Author

Kowalski Kazimierz.

Subject

Powierzchnia Spektroskopia

Charakterystyka metody XPS Podstawy metody Praca wyjścia i kalibracja skali energii Głębokość próbkowani a :i rozdzielczość analizy Widmo spektralne Przesunięcie chemiczne linii spektralnych Analiza ilościowa Wpływ wygrzewania w próżni na strukturę tlenku na powierzchni czystego niobu Przedstawienie problemu badawczego Materiał i przebieg eksperymentów Wpływ wygrzewania niobu w próżni na parametr dobroci wnęk rezonansowych Segregacja powierzchniowa w tlenku cyrkonu stabilizowanym itrem i w tlenku cyrkonu stabilizowanym itrem oraz domieszkowanym tytanem Sformułowanie problemu badawczego Materiał badawczy i praca doświadczalna Charakterystyka metody SIMS Podstawy metody - rozpylanie jonowe Możliwości i zastosowanie techniki SIMS - metoda dynamiczna i statyczna Heterodyfuzja kationów w stabilizowanym tlenku cyrkonu Postawienie problemu badawczego Model dyfuzji wzdłóż granic ziaren Metodyka pracy doświadczalnej Prezentacja wybranych wyników Dyfuzja własna i powierzchniowa wymiana izotopowa tlenu w stabilizowanym tlenku cyrkonu i domieszkowanym tlenku ceru Wprowadzenie w tematykę badawczą Podsumowanie badań metodą XPS Podsumowanie badań metodą SIMS.

Media files:

Availability:

Wypożyczalnia

There are copies available to loan: sygn. 124557 (1 egz.)

Magazyn

Copies are only available in the library: sygn. 125250 E (1 egz.)

Notes:

Dod. s. tyt.: Use of XPS and SIMS spectroscopy methods in studies of transport processes in surface layer of materials

General note

Tyt. z dod. s. tyt.: The use of XPS and SIMS spectroscopy methods in studies of transport processes in surface layer of materials

Bibliogr. s. 99-[106].

Language note

Streszcz. także w jęz. ang.