2. Pomiar lokalnego napięcia kontaktowego sondą Kelvina / 11 2.1. Parametry elektryczne charakteryzujące fazę naładowaną / 11 2.2. Napięcie kontaktowe / 18 2.3. Korelacja między napięciem kontaktowym a potencjałem elektrochemicznym / 28 2.4. Wyznaczenie odległości próbka — sonda i napięcia kontaktowego na przykładzie układu Ni/Zn / 30 2.5. Badanie odporności korozyjnej powłok elektrolitycznych metodą Kelvina / 33 3. Pomiar lokalnego prądu jonowego sondą drgającą / 37 3.1. Podstawy teorii dysocjacji elektrolitycznej i transportu ładunku w roztworach elektrolitów / 37 3.2. Stan równowagi, stan stacjonarny i stan przejściowy / 48 3.3. Pomiar potencjału elektrycznego nad elektrochemicznie aktywnymi obszarami elektrody / 51 3.4. Kalibracja wskazań sondy drgającej / 57 3.5. Wyznaczenie gęstości prądu jonowego na przykładzie źródła punktowego / 59 3.6. Badanie odporności korozyjnej powłok elektrolitycznych metodą sondy drgającej / 61 4. Lokalna elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna / 65 4.1. Analiza liniowych układów dynamicznych / 65 4.2. Podstawy teoretyczne elektrochemicznej spektroskopii impedancyjnej / 68 4.3. Wybrane elektryczne modele układów elektrochemicznych / 76 4.4. Badanie odporności korozyjnej powłok elektrolitycznych metodą lokalnej elektrochemicznej spektroskopii impedancyjnej / 85 5. Elektrochemiczna mikroskopia skaningowa / 91 5.1. Elektrochemiczne właściwości makro- i mikroelektrod / 91 5.2. Tryby pracy elektrochemicznego mikroskopu skaningowego stosowane w badaniach korozyjnych / 101 5.3. Przykłady zastosowania elektrochemicznej mikroskopii skaningowej w badaniach korozyjnych / 106 5.4. Trójwymiarowe obrazowanie topografii i aktywności powierzchni próbki / 110 5.5. Sprzężenie elektrochemicznej mikroskopii skaningowej z innymi metodami skaningowymi / 112 6. Praktyczne aspekty zastosowania elektrochemicznych metod skaningowych w inżynierii korozyjnej / 115 6.1. Elektrochemiczne metody skaningowe — układ pomiarowy / 115 6.2. Pomiar konduktywności roztworu elektrolitu / 117 6.3. Ustalenie i monitorowanie parametrów sygnału mierzonego metodami SKP i SVET / 119 6.4. Ustalenie i monitorowanie parametrów sygnału mierzonego metodą LEIS / 120 6.5. Ustalenie i monitorowanie parametrów sygnału mierzonego metodą SECM / 121