SOWA OPAC : Katalog komputerowy książek, czasopism i zbiorów specjalnych

412 wyników

Brak okładki

Czasopismo

W koszyku

Dziennik Urzędowy Miar i Probiernictwa / Główny Urząd Miar. - Warszawa : Wydawnictwa Normalizacyjne ALFA-WERO Sp.z o.o, 1994- - 30 cm

Temat

Prawodawstwo Wydawnictwa urzędowe Jednostki miar Metrologia.

Zawartość zasobu Magazyn P 2658 udostępniany w BWEiZ

1994 nr 1-11

1995

1996

1997 Nr 1-9

2000 Nr 1-6

Ostatnio wpłynęły zeszyty:

Czytelnia Główna: 1999 vol. Czasopismo, nr zawieszone, 2000 nr skorowidz, nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6

Brak okładki

Książka

W koszyku

IV Sympozjum na temat "Metrologiczne właściwości programowalnych przetworników pomiarowych - MWPPP 2007", Gliwice, 19-20 listopada 2007 r. : streszczenia referatów / Politechnika Śląska w Gliwicach. - Gliwice : Politechnika Śląska, 2007. - [42] s. : il. ; 30 cm.

Temat

Metrologia. Przetworniki pomiarowe

Gatunek

Materiały konferencyjne

Pod patronatem Komisji Metrologii PAN [Polskiej Akademii Nauk] Oddział w Katowicach.

Bibliogr. przy streszcz.

dostępna do wypożyczenia

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Wypożyczalnia

Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 118051 L (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Metody i technika przetwarzania sygnałów w pomiarach fizycznych : materiały XV Międzynarodowego Seminarium Metrologów [Książka elektroniczna] : 24-27 września 2007 roku, Lwów. - 2007. - 1 dysk optyczny [CD-ROM] ; 13 cm.

Temat

Metrologia. Konwersja danych. Pomiary fizyczne

Gatunek

Dokumenty elektroniczne.

Dokument towarzyszący : streszczenia referatów

brak informacji o dostępności

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka WEiZ

w opracowaniu: sygn. DS 3256 (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Metrologia w technikach wytwarzania [Książka elektroniczna] : XII Krajowa III Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna : 19-21 września 2007 roku, Augustów / Politechnika Białostocka. Wydział Mechaniczny. - [Lublin] : [Politechnika Lubelska], 2007. - 1 dysk optyczny [CD-ROM] ; 13 cm.

Temat

Maszyny Metrologia.

Gatunek

Dokumenty elektroniczne

Przegląd Mechaniczny, ISSN 0033-2259 ; Supl.9 (2007)

Dane tekstowe

brak informacji o dostępności

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka WEiZ

w opracowaniu: sygn. DS 3242 (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Metrologia wielkości geometrycznych : I Krajowe Sympozjum, Warszawa, kwiecień 1976 r. / zorganizowane przez Polski Komitet Pomiarów i Automatyki ; Naczelna Ogranizacja Techniczna. Dział Zagadnień Techniki BZG. - Warszawa : Naczelna Organizacja Techniczna. Dział Zagadnień Techniki BZG [Biura Zarządu Głównego], 1976. - [2], 394 s. : il. ; 21 cm.

(Wydawnictwa Konferencyjne / Naczelna Organizacja Techniczna. Seria E ; 4)

Temat

Metrologia.

Gatunek

Materiały konferencyjne

Bibliogr. przy pracach.

dostępna do wypożyczenia

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Wypożyczalnia

Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 50346 L (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : Sympozjum "Metrologia '86", Warszawa, 11-13 czerwca 1986 r. : referaty i komunikaty. T. 1 / Politechnika Warszawska. Centrum Uczelniano-Przemysłowe Metrologii i Systemów Pomiarowych. - Warszawa : Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, 1986. - 311 s. : il. ; 25 cm.

Temat

Metrologia. Jakość produktu

Gatunek

Materiały konferencyjne

Bibliogr. przy ref.

dostępna do wypożyczenia

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Wypożyczalnia

Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 71729 L (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : Sympozjum "Metrologia '86", Warszawa, 11-13 czerwca 1986 r. : referaty i komunikaty. T. 2 / Politechnika Warszawska. Centrum Uczelniano-Przemysłowe Metrologii i Systemów Pomiarowych. - Warszawa : Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, 1986. - 361 s. : il. ; 25 cm.

Temat

Metrologia. Jakość produktu

Gatunek

Materiały konferencyjne

Bibliogr. przy ref.

dostępna do wypożyczenia

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Wypożyczalnia

Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 71730 L (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Perspektywy i prognozy rozwojowe badań na styku automatyki i metrologii : Sympozjum Naukowe, Szczecin - Niechorze, 16-17 kwietnia 2005 r. : referaty. - Szczecin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Szczecińskiej, 2005. - 159 s. : il. ; 24 cm.

Temat

Metrologia. Automatyka

Na okł. : Jubileusz 70-lecia urodzin i 50-lecia pracy zawodowej Profesora Adama Żuchowskiego.

Bibliogr. przy ref.

dostępna w czytelni

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Magazyn

Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 111685 LE (1 egz.)

Brak okładki

Czasopismo

W koszyku

Pomiary Automatyka Kontrola : miesięcznik naukowo-techniczny Naczelnej Organizacji Technicznej. - Warszawa : Oficyna Wydaw. SIMP, 1985-. - 29 cm.

Mies.

Temat

Automatyka Metrologia. Pomiary elektroniczne

Od 2000 podtyt.: miesięcznik naukowo-techniczny.

Tytuł gromadzony w BG od roku 1962-.

Zawartość zasobu Magazyn P 1650 udostępniany w BWEiZ

1988 nr 1-12

1989 nr 1-12

1990 nr 1-12

1991 nr 1-12

1992 nr 1-12

1993 nr 1-12

1994 nr 1-12

1995 nr 1-12

1996 nr 1-12

1997 nr 1-12

1998 nr 1-12

1999 nr 1-12

2000 nr 1-12

2001 nr 1-12

2002 nr 1-12

2003 nr 1-12

2004 nr 2-12

2005 nr 1-12

2006 nr 1-12

2007

2008 nr 1-12

2009 nr 1-12

2010

2011

2012

2013

2014

2015

2016

Ostatnio wpłynęły zeszyty:

Czytelnia Główna: 1999 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2000 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2001 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7-8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12+CD, 2002 nr 1+CD, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5-6, nr 7-8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2003 nr 1, nr 2-3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7-8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2004 nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7-8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2005 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7-8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2006 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7-8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2007 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2008 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2009 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2010 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2011 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2012 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2013 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2014 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2015 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6, nr 7, nr 8, nr 9, nr 10, nr 11, nr 12, 2017 nr 1, nr 2, nr 3, nr 4, nr 5, nr 6

Wersja elektroniczna

Książka

W koszyku

Pomiary w nauce i technice / pod redakcją Mariusza R. Rząsy. - Opole : Oficyna Wydawnicza Politechniki Opolskiej, 2019. - 335 stron : ilustracje, wykresy ; 24 cm.

(Studia i Monografie / Politechnika Opolska, ISSN 1429-6063 ; z. 514)

Forma i typ

Książki Publikacje naukowe

Temat

Metrologia. Technika Przyrządy pomiarowe

Gatunek

Monografia

Dziedzina i ujęcie

Inżynieria i technika

Bibliografia przy rozdziałach. Indeks.

Rozproszone systemy pomiarowe System monitorowania jakości powietrza w warunkach miejskich bazujący na rozwiązaniach IoT System pozycjonowania górników w kopalniach węgla kamiennego wykorzystujący technologię ZigBee Wybrane metody lokalizacji węzłów systemu pomiarowego wewnątrz pomieszczeń Zwiększenie dokładności lokalizacji węzłów systemów bezprzewodowych Diagnostyka Wykrywanie defektów w materiałach o włóknistej strukturze Wykrywanie metodą elektromagnetyczną elementów metalowych w produktach mleczarskich Porównanie różnych sposobów pomiarów luminancji nawierzchni drogi 67 Rozpoznawanie obrazów na przykładzie sygnalizacji świetlnej System telemetryczny obiektu poruszającego się z prędkością naddźwiękową Określanie jakości oddawania barw przez źródła światła Zrozumiałość mowy w strefie bezzałogowego statku powietrznego Metrologia laboratoryjna Pierwszy polski modułowy/próżniowy komparator masy wspomagający przenoszenie i utrzymanie narodowego wzorca odniesienia masy 1 kg 119 Wzorcowanie enkoderów kątowych Konstrukcja stanowiska pomiarowego umożliwiającego przeprowadzanie badań porównawczych jakości oraz energooszczędności oświetlenia LED Technika pomiarowa Ekranowanie elektromagnetyczne wybranych uniwersalnych obudów urządzeń elektronicznych Znaczenie pomiaru parametrów gałęzi poprzecznej schematu zastępczego w procesie projektowania transformatorów pomiarowych Analiza jakości dopasowania modelami matematycznymi, względnego rozkładu widmowego mocy promienistej LED-a Automatyzacja procesu uzwajania precyzyjnych transformatorów pomiarowych Pomiary przemysłowe Sterowanie parametrami hartowania indukcyjnego w praktyce przemysłowej Podstawy teoretyczne promienistej wymiany ciepła - praktyczne przykłady obliczeniowe dla podczerwieni Próba zastosowania bezzałogowych statków powietrznych do metrologicznej oceny stopnia erozji obiektów energetycznych Wpływ uwarunkowań przepływowych w instalacjach energetycznych na charakterystyki sond spiętrzających przepływomierzy Właściwości metrologiczne metod FAM-C i FDM-Astosowanych w diagnostyce zespołów napędowych Błędy układów pomiarowych stosowanych w metodach FAM-C i FDM-A Pomiary elektryczne Precyzyjny szerokopasmowy bocznik 50 mA Wpływ nieliniowości źródła na błędy komparacji impedancji w komparatorze czteroportowym Wpływ nieliniowych odbiorników grupowych na wskazania elektronicznych liczników energii elektrycznej Pomiary wielkości nieelektrycznych Badania kompozytu CFRP z wykorzystaniem termografii aktywnej i metody kontrastów cieplnych Modelowanie numeryczne zakłóceń żyroskopu typu MEMS na podstawie danych pomiarowych Analiza wpływu czułości widmowej luksomierzy na jakość pomiaru natężenia oświetlenia kreowanego lampami LED Numeryczna metoda skrócenia czasu odpowiedzi czujnika stężenia gazu z filtrem węglowym

Sygnatura czytelni BMW: IV K 91(514) (nowy)

dostępna do wypożyczenia

Ta pozycja znajduje się w zbiorach 2 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.

Wypożyczalnia

Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 148348, 148347, 148346 (3 egz.)

Biblioteka Międzywydziałowa

Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. M 14820 N (1 egz.)

Brak okładki

Czasopismo

W koszyku

Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały / Politechnika Wrocławska. - Wrocław : Oficyna Wydaw. PWr, 2000-. - 24 cm.

Temat

Maszyny elektryczne Napęd elektryczny Metrologia.

Zawartość zasobu Magazyn P 2838 udostępniany w BWEiZ

20/48 2000

21/49 2000

22/50 2000

23/54 2003

24/56 2004

25/58 2005

26/59 2006

27/60 2007

28/60 2008

29/63 2009

30/64 2010

31/65 2011

32/66 2012

33/69 2013

34/70 2014

35/71 2015

Brak okładki

Książka

W koszyku

Slovar' po metrologii / Sovet Ekonomičeskoj Vzaimopomošči., Postojannaja Komissija po Sotrudničestvu v Oblasti Standartizacii. - Varšava : B.w., 1989. - 230, [2] s. ; 20 cm.

Temat

Metrologia.

Slovar' izdaetsja v 70-uju godovščinu sozdanija Pol'skoj Metrologičsekoj Služby v pamjat' professoru i glavmomu avtoru pervogo meždunarodnogo slovarja po metrologii.

dostępna do wypożyczenia

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Wypożyczalnia

Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 79686, 79685 (2 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Twórczość inżynierska dla współczesnej Europy : materiały Seminarium, Bydgoszcz - Białe Błota, [25] wrzesień 2009 / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Oddział w Bydgoszczy, Uniwersytet Technologiczno-Przyrodniczy w Bydgoszczy. Wydział Mechaniczny. - Bydgoszcz : Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Zarząd Główny, 2009. - 83 s. : il. ; 24 cm.

Temat

Metrologia. Środowisko człowieka Ultradźwięki Rozdrabnianie Samochody Trybologia Maszyny Techniki wizyjne

Gatunek

Materiały konferencyjne

Nr impr. ze s. internet. org.

Nazwa wydawcy wg bazy ISBN BN.

Na końcu każdego ref. tyt. w jęz. ang.

Bibliogr. przy ref.

dostępna w czytelni

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Magazyn

Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 127175 LE (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

V Vseukraïnsʹkoï Naukovo-Tehnìčnoï Konferencìï Molodih Včenih u Carinì Metrologìï "Technical Using of Measurement-2019", Slavs'ke, Ukraine, 29 sìčnâ - 2 lûtogo 2019 [Dokument elektroniczny] : tezi dopovìdej. - Lʹviv : TzOV «Halytsʹka vydavnycha spilka», 2019. - 1 dysk optyczny (CD-ROM) ; 12 cm.

Temat

Metrologia.

Gatunek

Materiały konferencyjne

Dziedzina i ujęcie

Inżynieria i technika

Tytuł z zawartości.

Publikacja zawiera streszczenia sprawozdań z konferencji poświęconej naukowo-technicznym problemom metrologii.

brak informacji o dostępności

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka WEiZ

w opracowaniu: sygn. DS 3515 (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

VIII Szkoła - Konferencja "Metrologia wspomagana komputerowo" [Książka elektroniczna] : Waplewo, 27-30 maja 2008 roku / Wojskowe Centrum Metrologii Ministerstwa Obrony Narodowej, WAT. - Warszawa : Wojskowa Akademia Techniczna, 2008. - 1 dysk optyczny [CD-ROM] ; 13 cm x 14 cm.

Temat

Metrologia. Systemy operacyjne.

Gatunek

Dokumenty elektroniczne.

Format PDF

Materiały konferencyjne na prawach rękopisu

Dokument towarzyszący : streszczenia

brak informacji o dostępności

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka WEiZ

w opracowaniu: sygn. DS 3265 LE (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

XIII Konferencja Naukowo-Techniczna Problems and Progress in Metrology, Szczyrk, 03 - 06 czerwca 2018 r. [Dokument elektroniczny], Polska Akademia Nauk. - Katowice ; Szczyrk , 2018. - 1 USB Disc : ilustracje (w tym kolorowe) ; 5 cm.

Temat

Metrologia. Aparatura pomiarowa

Gatunek

Materiały konferencyjne Dokumenty elektroniczne

USB Disc zawiera: referaty, program konferencji.

Bibliografia przy referatach.

brak informacji o dostępności

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka WEiZ

w opracowaniu: sygn. DS 3500 (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

XVII Krajowa i VIII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna "Metrologia w technikach wytwarzania", 19-21.09.2018 r., Gliwice - Piekary Śląskie = XVII National and VIII International Scientific and Technical Conference "Metrology in manufacturing engineering" / Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Instytut Podstaw Konstrukcji Maszyn. - Gliwice : Politechnika Śląska, 2018. - 390 stron : ilustracje ; 24 cm.

Forma i typ

Książki Publikacje naukowe

Temat

Metrologia. Maszyny Obróbka powierzchniowa

Gatunek

Materiały konferencyjne

Dziedzina i ujęcie

Inżynieria i technika

Bibliografia przy pracach.

Adamczak S', Gorycki Ł., Makieła W., Smagała A.: ocena wpływu wybranych parametrów bicia na wartość momentu oporowego W łozyskach Adamczak S., Janecki D.' Stępień K.: ogólne założenia pomiaru odchyłek kształtu powierzchni przedmiotów za pomocą strategii adaptacyjnej Adamczak S., Świderski J., Dobrowolski T., Durakbasa N. : Zastosowanie analizy MSA do oceny przyrządów do pomiarów struktury geometrycznej powierzchni 25 Adamczak S., Świderski', Dobrowolski T., Mathia T.G.: Szacowanie Niepewności pomiaru parametrów profilu metodą Monte Carlo Adamczak S., Świderski J., Miller T., Wieczorowski M., Chmielik l.: Zasady dobrej praktyki metrologicznej w celu zapewnienia wiarygodnych wyników pomiarów struktury geometrycznej powierzchni Adamczak S., Wzochal M', Łuszczak R.: Badania porównawcze wybranych systemów pomiarowych drgań łożysk tocznych Bańkowiak T.: Nowe metody geometryczne w wieloskalowej analizie topografii powierzchni: nachylenie i krzywizna Barylski A.: Pomiary i analiza wielkości mikroziaren ściernych w operacjach docierania Bazan A., Kawalec A.' Chmielik l. Zastosowanie analizy map i motywów CPS do oceny z użycia ziaren ściernych na ściernicy jednowarstwowej Burek J., Jamuła B.: Dokładność procesu odtwarzania geometrii ostrzy skrawających narzędzi w optycznych systemach pomiarowych Burek J., Kubik P., Babiarz R., Sułowicz P.: Pomiar falistości powierzchni w procesie szlifowania wgłębnego.. 97 Burek J., Sułkowicz P., Babiarz R': Pomiar i kompensacja walcowości wałków o małej sztywności w procesie szlifowania osiowego Burek J, Turek P.: ocena dokładności rekonstrukcji geometrii struktury anatomicznej przy zastosowaniu tomografi i przemysłowej i głowicy laserowej Cieloszyk J': ocena powierzchni wirtualnej jako narzędzie wyboru warunków pomiaru i parametrów struktury geometrycznej powierzchni Dobosz M.: Nowy interferencyjny czujnik do pomiarów mikro odchyleń kątowych Dobrowolski T., Tomasik J., Tandecka K., Magdziak M., Reizer R.: Szum pomiarowy jako składowa niepewności pomiarów struktury geometrycznej powierzchni Grochalski K', Wieczorkowski M', Gapiński B., Mendak M': Wybrane źrodła błędów w mikroskopii różnicowania ogniskowego Hawryluk M., Kuran M., Ziemba J', Janik M.: Możliwość zastosowania replik w pomiarach elementów maszyn z wykorzystaniem skanera laserowego Kaćmar L., Dovica M', Stejskal T., Kelemenovó T., Jakubković E.: Application of Monte Carlo method in an inverse measuring system Kaźmierczak M., Kosmol J.: Narzędzie pomiarowe w kontekście możliwości oceny dokładności wymiarowo-kształtowej części maszyn' Kozior T., Kundera C.: Dokładność wymiarowo-kształtowa modeli wykonanych technologią PJM Kuran M., Ziemba J': Możliwość zastosowania replik w pomiarach elementów maszyn z wykorzystaniem stykowych pomiarów współrzędnościowych Łaski P. A., Pietrala D. S., Zwierzchowski J., Łomża H.: Projekt stanowiska do badań trwałościowych łożysk tocznych Łętocha A., Toboła D., Miller T.: Analiza topografii powierzchni stali narzędziowej VANADls 6 po wybranych sekwencyjnych procesach obróbki powierzchniowej Łukidnowicz Cz.: Przegląd metod optycznych stosowanych do oceny strukt0ry geometrycznej powierzchni wyrobów walcowych.. 197 Magdziak M', Krawczyk M., Kawalec A.' Sładek J.: Checking the accuracy of selected methods of probe radius correction Majda P.: Dobór i redukcja modeli błędu przestrzennego pozycjonowania obrabiarek Majda P., Powałka B.' Miądlicki K., Filipowicz K.: Poprawa dokładności geometrycznej zarysów toczonych obwiedniowo Makieła W., Gogolewski D.: ocena wpływu gęstości próbkowania poziomego na proces dekompozycji falkowej Nozdrzykowski K. Kostrzewa W', Kałkowska E.: Uniwersalny system do pomiarów odchyłek geometrycznych wiel koga barytowych wałów korbowych Pawlus P., Reizer R.: Wpływ błędu kwantyzacji na poprawność odtworzenia stereometrii powierzchni obrabianych Pelic M., Bartkowiak T., Pabiszczak S., Macyszyn Ł., Staniek R.: Stanowisko do pomiaru objętości półfabrykatu za pomocą czujnika laserowego. Podulka P.: Analiza rozmieszczenia kieszeni olejowych w pomiarach struktury geometrycznej powierzchni Poniatowska M., Groch D.: Poprawa dokładności dopasowania powierzchni zamykających formy wtryskowej Ratajczyk E.: Cyfrowe metody pomiarów karoserii samochodowych po wypadku Roszkowski A., Skoczyński W., Foremniak M., Piórkowski P., Borkowski W., Jankowski T.: Metoda identyfikacji sygnałów mocy zasilania w badaniach energochłonności obrabiarek Solecki M.: Automatyzacja procesu wzorcowania wzorców masy i odważników oraz jej wpływ na poprawę parametru powtarzalności komparatorów masy Stembalski M., SkoczyńskiW., Sandecki J., Roszkowski A., Preś P.: Możliwość regulacji temperatury na stanowisku testowym badania Właściwości elastometrów Swojak N', Jakubowicz M., Wieczorowski M.' Gapiński B.' Mendak M.: ocena właściwości etrologicznych laserowych głowic triangulacyjnych Swojak N', Wieczorowski M., Szelewski M.: ocena wymiarów gabarytowych przedmiotu na podstawie analizy obrazu Szymanek J', Jakubiec W, Zemanek D., Rosner P.: Nowe możliwości w zakresie pomiaru płaskości elementów uszczelnień. 331 Toboła D., Łętocha A. : Wpływ nagniatania Ślizgowego kompozytem diamentowym na topografię powierzchni utwardzonych stali narzędziowych do obróbki plastycznej na zimno Turek P', Magdziak M.: Wpływ rodzaju filtru na wyniki bezstykowych pomiarów powierzchni swobodnych Werner A. : Podwyższenie dokładności wytwarzania powiezchni swobodnych na frezarkach CNC WoźniakA., Cendrowski M., Kowaluk T.: Wzorce o złożoną strukturze wewnętrznej do kalibracji pomiarów tomograficznych Zawada-Tomkiewicz A.: Łączenie danych zmierzonych powierzchni wypukłych. Zmazły P.: Model matematyczny oceny Wpływu odchyłki okrągłości i falistości powierzchni biezni łozysk tocznych na poziom generowanych drgań Zwiezchowski J., Pietrala D' S., Łaski P. A., Łomza H.: Akwizycja danych pomiarowych na stanowisku do badań trwałości łożysk tocznych

Sygnatura czytelni BMW: KN 41/18 (nowy)

dostępna w czytelni

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka Międzywydziałowa

Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. M 14597 N (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

XXXI Międzyuczelniana Konferencja Metrologów [Książka elektroniczna] : Białystok 7-10 września 1999 r. / Politechnika Białostocka. Wydział Elektryczny. Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Metrologii. - Białystok : PB, 1999. - 1 dysk optyczny [CD-ROM] ; 12 cm.

Temat

Metrologia.

Gatunek

książka elektroniczna (CD-ROM)

brak informacji o dostępności

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka WEiZ

w opracowaniu: sygn. DS 3089 (1 egz.)