SOWA OPAC : Katalog komputerowy książek, czasopism i zbiorów specjalnych

3 wyniki

Brak okładki

Książka

W koszyku

Elektronowa mikroskopia. T. 1, Mikroskopia transmisyjna / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła ; Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. - Kraków : Wydawnictwo PK [Politechniki Krakowskiej], 2014. - 165 s. : il. ; 24 cm.

Autor

Dziadur Wiesław. Mikuła Janusz S. (1957- ).

Temat

Mikroskopy elektronowe

Bibliogr. s. 13 i przy rozdz.

Sygnatura czytelni BMW: V I 7,1 (nowy)

dostępna w czytelni

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka Międzywydziałowa

Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 138923 N (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła ; Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. - Kraków : Wydawnictwo PK [Politechniki Krakowskiej], 2016. - 596 s. : il. (w tym kolor.) ; 24 cm.

Autor

Dziadur Wiesław. Mikuła Janusz S. (1957- ).

Temat

Mikroskopy elektronowe skaningowe

Gatunek

Podręczniki akademickie

Bibliogr., netogr. przy rozdz.

Dla operatorów mikroskopów skaningowych, jak i dla pracowników zajmujących się badaniami mikrostrukturalnymi i fraktograficznymi tworzyw konstrukcyjnych oraz studentów inżynierii materiałowej i fizyki technicznej, studiów stacjinarnych i doktoranckich.

Sygnatura czytelni BMW: V I 7,2 (nowy)

dostępna w czytelni

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Biblioteka Międzywydziałowa

Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 143718 N (1 egz.)

Brak okładki

Książka

W koszyku

Mikroskopia elektronowa. T. 3, Praktyczna mikroskopia skaningowa : wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła ; Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. - Kraków : Wydawnictwo PK, 2019. - 519 stron : fotografie, ilustracje, wykresy ; 24 cm.

Autor

Dziadur Wiesław Mikuła Janusz

Forma i typ

Książki Publikacje dydaktyczne

Odbiorca

Szkoły wyższe

Temat

Materiałoznawstwo Skaningowa mikroskopia elektronowa Skaningowy mikroskop elektronowy

Gatunek

Podręcznik

Dziedzina i ujęcie

Fizyka i astronomia Inżynieria i technika

Bibliografie przy rozdziałach.

Rozdział I. Praktyczne wskazówki 1.1.Skaningowa elektronowa mikroskopia 1.2.1.Główne cechy konstrukcyjne SEM 1.2.2.1.Układ optyczny 1.2.2.2.Goniometr 1.2.2.3.Układ przedstawiania obrazu i jego rejestracji 1.2.2.4.Układ próżniowy 1.2.2.5.Powiększenie 1.2.3.Podstawowe problemy optyki SEM i sposoby ich rozwiązywania 1.2.3.1.Wiązka elektronowa 1.2.3.2.Poprawa zdolności rozdzielczej SEM 1.2.3.3.Problematyka związana z doborem napięcia przyspieszającego 1.2.4.Rzeczywista zdolność rozdzielcza SEM 1.2.5.Głębia ostrości 1.2.6.Niektóre artefakty obrazów 1.2.7.Obserwacje z wykorzystaniem niskiej próżni 1.2.8.Obserwacje próbek czułych na działanie wiązki elektronowej 1.2.9.Specjalne metody obserwacji 1.2.10.Podstawowe problemy przygotowania próbek do obserwacji 1.2.11.Problem przewodnictwa cieplnego próbek 1.3.Mikroanaliza rentgenowska 1.3.1.1.Promieniowanie rentgenowskie generowane wiązką elektronową - widmo ciągłe i charakterystyczne 1.3.1.2.Energia charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego 1.3.1.3.Głębokość wyjścia informacji 1.3.2.Pomiary widmowe 1.3.2.1.Zasada metody mikroanalizy - dyspersji energii (EDS) 1.3.2.2.Rodzaje mikroanaliz 1.3.2.3.Podstawowe artefakty 1.3.2.4.Parametry analizy 1.3.2.5.Podstawowe zasady mikroanalizy - metoda długości fali (WDS) 1.3.2.6.Jak należy rozumieć dokładność ilościowej mikroanalizy w przypadku metody EDS Rozdział II. Techniczne materiały Materiały inżynierskie Rozdział III. Badania przy użyciu SEM Rozdział IV. Praktyka mikroskopii skanigowej IV.1. Badania mikrostruktury wybranych metali i stopów technicznych IV.1.1. Układ żelazo-cementyt IV.1.2. Obróbka cieplna stali IV.1.2.1. Podstawy zwykłej obróbki cieplnej stali IV.1.2.2. Przemiany zachodzące w stali przy chłodzeniu (< A1) IV.1.2.3. Podsumowanie obróbki cieplnej IV.1.3. Żeliwo IV.1.3.1. Struktura żeliwa IV.1.3.2. Żeliwo szare IV.1.3.3. Żeliwo sferoidalne IV.1.3.4. Żeliwo wermikularne IV.1.3.5. Żeliwo ciągliwe IV.1.3.6. Żeliwo ADI IV.2. Wpływ warunków eksploatacji na rodzaje zniszczeń metali i stopów technicznych ocenianych z wykorzystaniem SEM IV.2.2. Wpływ długotrwałej eksploatacji materiału IV.2.3. Wpływ warunków eksploatacji na zmiany mikro strukturalne stali dla energetyki IV.2.4. Odporność korozyjna IV.2.4.1. Elektrochemiczne podstawy procesu korozji IV.2.4.2. Elektrochemiczna korozja metali IV.2.4.3. Wprowadzenie do kinetyki procesów elektrochemicznych IV.2.4.4. Krzywe polaryzacyjne - reakcje anodowe i katodowe IV.2.4.5. Pasywność IV.2.4.6. Rodzaje korozji IV.2.4.7. Korozja wysokotemperaturowa (utlenianie na „sucho") na przykładzie nadstopów żelaza IV.3. Powłoki IV.3.2. Konwencjonalne metody wytwarzania warstw powierzchniowych IV.3.3. Badania powłok niklowo-fosforowych IV.3.4. Podstawy procesu chemicznego niklowania IV.3.5. Zawartość fosforu IV.3.6. Własności mechaniczne powłok IV.3.7. Struktura powłok IV.4. Pękanie materiałów IV.4.2. Rodzaje pękania IV.5. Fraktografia opisowa IV.5.2. Metale i stopy techniczne IV.5.3. Podział makroprzełomów IV.5.4. Mikrobudowa przełomów IV.5.6. Przykład badania przełomów kruchych na podstawie badania powierzchni pęknięć zimnych IV.5.6.1. Morfologia przełomów pęknięć zimnych IV.5.6.2. Badania przełomów pęknięć zimnych IV.5.6.3. Przełom transkrystaliczny quasi-łupliwy IV.5.6.4. Przełom międzykrystaliczny (międzyziarnisty) IV.5.6.5. Przełom transkrystaliczny ciągliwy IV.5.6.6. Przełom zmęczeniowy IV.6. Inżynierskie polimery IV.6.2. Termoplasty IV.6.2.1. Budowa termoplastów IV.6.2.2. Fraktografia termoplastów IV.6.2.3. Kompozyty na osnowie termoplastów IV.6.3. Laminaty

dostępna do wypożyczenia

1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.

Wypożyczalnia

Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 149422 (1 egz.)