Niepewność pomiaru
Sortowanie
Źródło opisu
Książki, czasopisma i zbiory specjalne
(14)
Forma i typ
Książki
(13)
Publikacje naukowe
(5)
Publikacje dydaktyczne
(1)
Publikacje fachowe
(1)
Dostępność
tylko na miejscu
(11)
dostępne
(7)
wypożyczone
(2)
nieokreślona
(1)
Placówka
Wypożyczalnia
(9)
Biblioteka WB
(1)
Biblioteka Międzywydziałowa
(6)
Magazyn
(2)
Biblioteka WEAiI
(2)
Autor
Arendarski Jerzy
(1)
Cysewska-Sobusiak Anna
(1)
Gąska Adam
(1)
Humienny Zbigniew
(1)
Jakubiec Władysław
(1)
Jaworski Janusz M
(1)
Kozyra Andrzej
(1)
Malinowski Jan
(1)
Ostrowska Ksenia
(1)
Owczarek Danuta (metrologia)
(1)
Räntsch Kurt
(1)
Skibicki Jacek
(1)
Sokołowski Jacek
(1)
Sroka Jan
(1)
Taler Dawid
(1)
Wiora Alicja
(1)
Wiora Józef
(1)
Wołłk-Łaniewski Lech
(1)
Rok wydania
2020 - 2024
(1)
2010 - 2019
(5)
2000 - 2009
(6)
1990 - 1999
(1)
1950 - 1959
(1)
Okres powstania dzieła
2001-
(6)
Kraj wydania
Polska
(14)
Język
polski
(14)
Odbiorca
Inżynierowie
(1)
Szkoły wyższe
(1)
Temat
Budownictwo
(2412)
Zarządzanie
(2038)
Matematyka
(1930)
Elektrotechnika
(1896)
Przedsiębiorstwa
(1790)
Niepewność pomiaru
(-)
Fizyka
(1535)
Informatyka
(1502)
Maszyny
(1228)
Fizjoterapia
(1175)
Wytrzymałość materiałów
(1157)
Ochrona środowiska
(1023)
Sport
(1013)
Turystyka
(953)
Elektronika
(946)
Ekonomia
(932)
Mechanika
(932)
Automatyka
(916)
Język angielski
(874)
Samochody
(867)
Rachunkowość
(821)
Chemia
(808)
Rehabilitacja
(800)
Polska
(791)
Gospodarka
(778)
Komunikacja marketingowa
(761)
Technika
(743)
Konstrukcje budowlane
(727)
Wychowanie fizyczne
(725)
Przemysł
(723)
Prawo pracy
(712)
Unia Europejska
(699)
Piłka nożna
(696)
Transport
(673)
Elektroenergetyka
(667)
Marketing
(638)
Architektura
(637)
Innowacje
(620)
Naprężenia i odkształcenia
(614)
OZE
(606)
Programowanie (informatyka)
(590)
Trening
(586)
Energetyka
(585)
Programy komputerowe
(584)
Technologia chemiczna
(567)
Rolnictwo
(556)
Biomasa
(543)
Analiza numeryczna
(532)
Prawo
(524)
Odnawialne źródła energii
(520)
Sterowanie
(520)
Komputery
(517)
Materiałoznawstwo
(517)
Produkcja
(517)
Symulacja
(515)
Inwestycje
(508)
Praca
(503)
Zarządzanie jakością
(497)
Zarządzanie zasobami ludzkimi (HRM)
(496)
Analiza matematyczna
(495)
Dzieci
(491)
Energia elektryczna
(489)
Urbanistyka
(488)
Materiały budowlane
(482)
Logistyka gospodarcza
(480)
Rynek pracy
(474)
Finanse
(468)
Maszyny elektryczne
(468)
Przedsiębiorstwo
(468)
Szkolnictwo wyższe
(468)
Psychologia
(467)
Modele matematyczne
(465)
Internet
(464)
Metale
(462)
Nauka
(456)
Marketing internetowy
(453)
Systemy informatyczne
(448)
Statystyka matematyczna
(447)
Języki programowania
(433)
Skrawanie
(432)
Reklama
(431)
Rehabilitacja medyczna
(429)
Mechanika budowli
(425)
Działalność gospodarcza
(422)
Organizacja
(417)
Telekomunikacja
(413)
Metrologia
(412)
Pedagogika
(410)
Drgania
(409)
Trener
(406)
Ubezpieczenia społeczne
(394)
Controlling
(392)
Optymalizacja
(392)
Historia
(388)
Filozofia
(385)
Podatki
(385)
Statystyka
(384)
Socjologia
(383)
Banki
(379)
BHP
(375)
Rachunkowość zarządcza
(374)
Gatunek
Opracowanie
(2)
Raport z badań
(2)
Monografia
(1)
Podręcznik
(1)
Podręczniki akademickie
(1)
Ćwiczenia i zadania dla szkół wyższych
(1)
Dziedzina i ujęcie
Inżynieria i technika
(6)
Informatyka i technologie informacyjne
(2)
Matematyka
(1)
14 wyników Filtruj
Brak okładki
Książka
W koszyku
Niepewność pomiarów / Jerzy Arendarski. - Warszawa : Politechnika Warszawska - Oficyna Wydaw., 2003. - 134 s. : rys., schem., tab., wykr. ; 24 cm.
(Skrypty / Politechnika Warszawska)
Bibliogr.s. 134
Sygnatura czytelni BMW: IV K 3 (nowy)
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 2 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. MS 956 N (1 egz.)
Magazyn
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. S 70747 LE (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Biblioteka WB
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. B 4010 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Monografie / Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki, ISSN 0860-097X. Mechanika)
Bibliografia, wykaz norm na stronach [110]-121.
Modele symulacyjne oceny dokładności pomiaru Model błędów geometrycznych WMP Model błędów głowicy pomiarowej Sumowanie błędów oraz wielokrotna symulacja pomiaru Wirtualne współrzędnościowe maszyny pomiarowe - przykłady Modele wirtualne mobilnych systemów współrzędnościowych Wirtualne współrzędnościowe ramię pomiarowe Koncepcja wirtualnego modelu systemu Laser Tracker Koncepcja i charakterystyka modelu symulacyjnego wybranego do przystosowania do pracy w zmiennym polu błędów Identyfikacja błędów resztkowych WMP w zmiennych warunkach temperaturowych Opracowane stanowisko badawcze Analiza możliwości zmniejszenia liczby punktów referencyjnych, na których oparta jest macierz CAA Wyznaczenie rozkładów błędów resztkowych w różnych zakresach temperatur Analiza pola błędów Wnioski z identyfikacji błędów resztkowych w zmiennych warunkach otoczenia Ponowne wyznaczenie rozkładów błędów resztkowych dla szerszych przedziałów zmienności temperatury Budowa i optymalizacja modułów symulacyjnych dla warunków przemysłowych Moduł błędów resztkowych Moduł błędów głowicy pomiarowej Rozwiązanie softwareowe Współpraca Incon VCMM z typowym oprogramowaniem metrologicznym Praca z systemem Incon VCMM Weryfikacja systemu oceny niepewności na stanowisku badawczym Instalacja i weryfikacja systemu w warunkach przemysłowych Kierunki dalszego rozwoju systemu oceny dokładności pomiaru on-line w warunkach przemysłowych Wyniki identyfikacji błędów resztkowych dla temperatur wynoszących 18, 19, 20, 21 oraz 22°C Wyniki identyfikacji błędów resztkowych dla temperatur wynoszących 18,6; 20 oraz 21,4 °C Wyniki optymalizacji modułu odpowiedzialnego za symulację błędów głowicy pomiarowej Wyniki weryfikacji przeprowadzonej na stanowisku Badawczym przystosowanym do odtwarzania warunków przemysłowych
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 145770 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 122004 N (1 egz.)
Książka
W koszyku
Metrologia wielkości geometrycznych / Władysław Jakubiec, Jan Malinowski. - Wydanie V - 3 dodruk (PWN). - Warszawa : Wydawnictwo WNT, 2021. - 487, [1] strona, [16] kart tablic : ilustracje, wykresy ; 24 cm.
W książce wyłącznie błędnie przypisany ISBN.
Bibliografie, wykazy norm przy rozdziałach. Indeks.
1.1. Metrologia i jej podział 1.2. Metrologia wielkości geometrycznych, jej przedmiot i zadania 1.3. Jednostka miary długości 1.4. Jednostka miary kąta płaskiego 1.5. Matematyka w metrologii wielkości geometrycznych 1.5.1. Elementy rachunku prawdopodobieństwa i statystyki matematycznej 1.5.2. Elementy analizy regresji i teorii aproksymacji 1.5.3. Elementy geometrii analitycznej 1.6. Podstawy cyfrowej techniki pomiarowej 2. Błędy pomiarów 2.1 Jakościowa i ilościowa definicja błędu pomiaru 2.2. Błędy systematyczne 2.2.1. Likwidacja źródła błędu systematycznego 2.2.2. Kompensacja błędów systematycznych 2.2.3. Korekcja błędu systematycznego polegająca na doświadczalnym wyznaczeniu poprawki przez zmianę przyczyny błędu 2.2.4. Korekcja błędu systematycznego polegająca na obliczeniu poprawki na podstawie wartości wielkości wpływających 2.2.5. Błędy systematyczne w pomiarach metodą pośrednią 2.2.6. Błędy obserwacji 2.3. Błędy przypadkowe 2.3.1. Błędy przypadkowe w pomiarach pośrednich równej dokładności 2.4. Wyznaczanie niepewności pomiaru 2.4.1. Wyznaczanie niepewności pomiaru wg zaleceń ISO 2.4.2. Złożona niepewność standardowa 2.4.3. Niepewność rozszerzona 2.5. Błędy nadmierne 2.6. Opracowanie wyniku pomiaru 3. Klasyfikacja i właściwości metrologiczne przyrządów pomiarowych i wzorców miar 3.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych i wzorców miar 3.2. Najważniejsze właściwości i charakterystyki przyrządów pomiarowych 4. Wzorce długości i kąta 4.1. Klasyfikacja wzorców miar długości 4.2. Wzorce kreskowe i końcowo-kreskowe 4.2.1. Noniusz 4.2.2. Mikroskop odczytowy ze spiralą Archimedesa 4.2.3. Układ odczytowy z urządzeniem projekcyjnym i czujnikiem fotooptycznym 4.2.4. Mikroskop odczytowy pryzmatyczny 4.3. Inkrementalne układy pomiarowe długości 4.3.1. Układy pomiarowe optoelektroniczne 4.3.2. Układy pomiarowe magnetyczne, induktosynowe i pojemnościowe 4.3.3. Interpolatory 4.4. Układy bezwzględne 4.4.1. Kodowe układy pomiarowe 4.4.2. Układy bezwzględne z siatkami inkrementalnymi 4.4.3. Układy bezwzględne ze ścieżką z siatką inkrementalną i ścieżką z kodem losowym (random code) firmy Heidenhain 4.5. Wzorce końcowe 4.5.1. Płytki wzorcowe 4.5.2. Wałeczki pomiarowe 4.5.3. Kulki pomiarowe 4.5.4. Szczelinomierze 4.5.5. Wzorce nastawcze 4.6. Wzorce falowe 4.7. Wzorce kreskowe kąta 4.8. Inkrementalne układy pomiarowe kąta 4.9. Kodowe układy pomiarowe kąta 4.10. Wzorce końcowe kąta 4.10.1. Pryzma wielościenna 4.10.2. Płytki kątowe 4.10.3. Kątowniki 5. Przyrządy suwmiarkowe, mikrometryczne i czujniki 5.1. Przyrządy suwmiarkowe 5.2. Przyrządy mikrometryczne 5.3. Czujniki 5.3.1. Czujniki mechaniczne 5.3.2. Czujniki optyczno-mechaniczne 5.3.3. Czujniki elektryczne 5.3.4. Czujniki pneumatyczne 5.3.5. Czujniki inkrementalne 5.4. Mechanizacja i automatyzacja pomiarów 6. Maszyny pomiarowe 6.1. Wiadomości wstępne 6.2. Długościomierze i wysokościomierze 6.2.1. Długościomierze pionowe Abbego (Zeiss) 6.2.2. Długościomierze poziome uniwersalne 6.2.3. Wysokościomierze 6.3. Optoelektroniczne przyrządy pomiarowe 6.4. Mikroskopy pomiarowe i projektory 6.4.1. Mikroskopy warsztatowe małe 6.4.2. Mikroskopy warsztatowe duże 6.4.3. Mikroskopy uniwersalne 6.4.4. Projektory 7. Interferometry 7.2. Interferometry laserowe 7.2.1. Interferometr laserowy HP 5528A (Hewlett-Packard) 7.2.2. Modułowy układ pomiarowy HP 5527A (Hewlett-Packard) 7.2.3. Interferometr laserowy HP 5529A do kalibracji dynamicznej 7.2.4. Interferometr laserowy ZLM 500 (Zeiss) 7.2.5. Interferometr laserowy ILM 1131 (Heidenhain) 8. Nadzorowanie przyrządów pomiarowych i obrabiarek 8.2. Sprawdzanie prostych przyrządów pomiarowych 8.2.1. Sprawdzanie przyrządów suwmiarkowych 8.2.2. Sprawdzanie przyrządów mikrometrycznych 8.2.3. Sprawdzanie czujników 8.2.4. Sprawdzanie płytek wzorcowych 8.3. Sprawdzanie współrzędnościowych maszyn pomiarowych 8.3.1. Sprawdzanie maszyn pomiarowych według EN ISO 10360-2 8.3.2. Sprawdzanie maszyn pomiarowych ze stołem obrotowym według PN-EN ISO 10360-3 8.3.3. Sprawdzanie maszyn pomiarowych według PN-EN ISO 10360-4 8.3.4. Sprawdzanie maszyn pomiarowych według PN-EN ISO 10360-5 8.3.5. Sprawdzanie maszyn pomiarowych przy użyciu wzorca płytowego z kulami lub otworami 8.4. Sprawdzanie innych przyrządów pomiarowych 8.5. Oprogramowanie wspomagające nadzorowanie przyrządów pomiarowych 8.6. Nadzorowanie obrabiarek 9. Dobór przyrządów pomiarowych i reguły orzekania zgodności i niezgodności z tolerancją (ze specyfikacją) 9.1. Postępowanie pomiarowe 9.2. Metody pomiarowe 9.3. Zasada pomiaru 9.4. Dobór przyrządów pomiarowych 9.5. Niepewność pomiaru a tolerancja wymiaru 9.5.1. Kontrola wyrobów za pomocą pomiarów 10. Pomiary wałków, otworów, wymiarów mieszanych i pośrednich 10.2. Modele opisu postaci geometrycznej wyrobu 10.3. Układ tolerancji wałków i otworów 10.4. Zasady tolerowania 10.5. Wymiarowanie i tolerowanie wektorowe 10.6. Pomiary przyrządami suwmiarkowymi 10.7. Pomiary przyrządami mikrometrycznymi 10.8. Pomiary czujnikami 10.9. Pomiary długościomierzami uniwersalnymi i pionowymi 10.10. Pomiary mikroskopami pomiarowymi 10.11. Sprawdziany 11. Pomiary kątów i stożków 11.1. Układ tolerancji kątów 11.2. Układ tolerancji i pasowań stożków 11.2.1. Wymiarowanie i tolerowanie stożków 11.2.2. Tolerancje i pasowania stożków 11.3. Pomiary kątów 11.3.1. Pomiary kątomierzami 11.3.2. Głowice i stoły podziałowe 11.3.3. Liniały sinusowe 11.3.4. Pomiary mikroskopami 11.3.5. Luneta autokolimacyjna 11.3.6. Goniometr 11.3.7. Poziomnice 11.4. Pomiary stożków 11.4.1. Pomiary stożka zewnętrznego mikroskopem pomiarowym 11.4.2. Pomiary stożka zewnętrznego przy użyciu wałeczków pomiarowych 11.4.3. Pomiary stożka wewnętrznego przy użyciu kuł pomiarowych 11.4.4. Przyrządy do pomiaru stożków 11.4.5. Sprawdziany do stożków 12. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe 12.1. Wiadomości wstępne 12.2. Współrzędnościowa technika pomiarowa 12.2.1. Istota współrzędnościowej techniki pomiarowej 12.2.2. Parametryzacja elementów geometrycznych 12.2.3. Algorytmy wyznaczania elementów skojarzonych 12.2.4. Elementy teoretyczne i relacje między elementami geometrycznymi 12.3. Budowa współrzędnościowych maszyn pomiarowych 12.3.1. Układy pomiarowe 12.3.2. Układy sterowania 12.4. Struktura mechaniczna 12.4.1. Klasyfikacja 12.4.2. Elementy i zespoły 12.5. Zespół głowicy pomiarowej 12.5.1. Głowice pomiarowe 12.5.2. Układy trzpieni pomiarowych 12.6. Wyposażenie maszyn pomiarowych 12.7. Komputer i oprogramowanie pomiarowe 12.7.1. Kwalifikacja układów trzpieni pomiarowych 12.7.2. Układ współrzędnych przedmiotu 12.7.3. Analiza wyników pomiaru 12.7.4. Programowanie przebiegu pomiarowego CNC 12.8. Strategia pomiaru 12.9. Dokładność maszyn pomiarowych 12.9.1. Źródła błędów 12.9.2. Model dokładności geometrycznej 12.9.3. Wpływ temperatury i gradientów temperatur 12.9.4. Matematyczna korekcja dokładności (CAA) — model statyczny 12.9.5. Matematyczna korekcja dokładności — model dynamiczny 12.9.6. Błędy wynikające z oprogramowania 12.9.7. Wyznaczanie niepewności pomiaru — metoda porównawcza 12.9.8. Wyznaczanie niepewności pomiaru — model wirtualny 12.10. Przykłady maszyn pomiarowych 13. Pomiary odchyłek geometrycznych 13.1. Tolerancje geometryczne 13.1.1. Klasyfikacja i pojęcia podstawowe 13.1.2. Tolerancje kształtu 13.1.3. Bazy 13.1.4. Tolerancje kierunku 13.1.5. Tolerancje położenia 13.1.6. Tolerancje bicia 13.1.7. Tolerancje zależne. Zasada maksimum materiału 13.1.8. Tolerancje geometryczne ogólne 13.2. Ogólne zasady pomiarów odchyłek geometrycznych 13.3. Pomiary odchyłki prostoliniowości 13.3.1. Wzorce prostoliniowości 13.3.2. Klasyfikacja sposobów pomiarów odchyłki prostoliniowości 13.3.3. Pomiary odchyłki prostoliniowości w płaszczyźnie z wykorzystaniem wzorca w postaci wiązki światła 13.3.4. Wyznaczanie odchyłki prostoliniowości na podstawie wyników pomiarów nachylenia zarysu 13.3.5. Pomiary odchyłki prostoliniowości osi w przestrzeni 13.3.6. Pomiary odchyłki prostoliniowości oraz odchyłek kształtu wyznaczonego zarysu i kształtu wyznaczonej powierzchni 13.4. Pomiary odchyłki płaskości 13.5. Pomiary odchyłki kształtu kuli 13.6. Pomiary odchyłki okrągłości 13.6.1. Metody bezodniesieniowe 13.6.2. Metody odniesieniowe 13.7. Pomiary odchyłki walcowości 13.8. Pomiary odchyłek geometrycznych współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi 13.9. Sprawdziany kierunku, położenia i prostoliniowości osi 14. Pomiary chropowatości i falistości powierzchni 14.3. Parametry profilu, chropowatości i falistości powierzchni 14.3.1. Parametry pionowe 14.3.2. Parametry poziome 14.3.3. Parametry mieszane 14.3.4. Charakterystyczne krzywe i związane z nimi parametry 14.3.5. Znormalizowane warunki pomiarów profilu 14.3.6. Parametry metody motywów 14.3.7. Parametry powierzchni o warstwowych właściwościach funkcjonalnych 14.3.8. Parametry nie zdefiniowane w normach PN, EN i ISO 14.4. Oznaczanie chropowatości i falistości powierzchni na rysunkach 14.5. Klasyfikacja pomiarów chropowatości i falistości powierzchni 14.6. Pomiary stykowe przy użyciu profilometrów 14.6.1. Zasada pomiaru 14.6.2. Głowice pomiarowe 14.6.3. Filtry i zespoły opracowujące informację pomiarową 14.6.4. Rejestratory 14.6.5. Klasyfikacja profilometrów 14.6.6. Przegląd profilometrów 14.6.7. Źródła błędów w pomiarach stykowych 14.6.8. Wzorcowanie profilometrów 14.6.9. Zasady oceny chropowatości powierzchni mierzonej metodą stykową 14.6.10. Pomiary profilometryczne wiązką zogniskowaną 14.7. Pomiary profilometryczne wiązką zogniskowaną 14.8. Pomiary optyczne metodą przekroju świetlnego 14.9. Pomiary interferencyjne 14.10. Pomiary przez porównanie z wzorcami chropowatości powierzchni obrabianych 14.11. Inne metody pomiaru chropowatości powierzchni 15. Pomiary gwintów 15.1. Układ tolerancji i pasowań gwintów metrycznych walcowych 15.1.2. Opis i parametry postaci geometrycznej gwintu metrycznego walcowego 15.1.3. Układ tolerancji i pasowań gwintów metrycznych walcowych ogólnego przeznaczenia z pasowaniem luźnym 15.2. Pomiary gwintów walcowych zewnętrznych o zarysie symetrycznym 15.2.1. Pomiar średnicy zewnętrznej 15.2.2. Pomiar średnicy wewnętrznej 15.2.3. Pomiar podziałki 15.2.4. Pomiary kąta gwintu i kątów boków 15.2.5. Pomiar średnicy podziałowej za pomocą mikroskopu pomiarowego 15.2.6. Pomiar średnicy podziałowej sposobem trójwałeczkowym 15.3. Pomiary gwintów walcowych wewnętrznych 15.3.1. Pomiar średnicy podziałowej gwintu wewnętrznego za pomocą wkładek z rowkami pryzmatycznymi i długościomierza uniwersalnego firmy Zeiss 15.3.2. Pomiar średnicy podziałowej przy użyciu sztywnego trzpienia z końcówkami pomiarowymi firmy Mahr lub Zeiss 15.4. Pomiary gwintów walcowych symetrycznych ogólnego przeznaczenia 15.4.1. Pomiary gwintów zewnętrznych i wewnętrznych 15.4.2. Interpretacja tolerancji średnicy podziałowej gwintów ogólnego przeznaczenia 15.5. Pomiary gwintów stożkowych o zarysie symetrycznym względem prostopadłej do osi gwintu 15.5.1. Konstrukcja zarysu ostrego gwintu stożkowego o dwusiecznych kątów gwintu prostopadłych do osi gwintu 15.5.2. Średnica podziałowa 15.5.3. Pomiar kąta gwintu 15.5.4. Pomiar podziałki 15.5.5. Pomiar średnicy podziałowej mikroskopem pomiarowym 15.5.6. Pomiar kąta stożka 15.6. Pomiary gwintów stożkowych o zarysie symetrycznym względem prostopadłej do tworzącej stożka 15.6.1. Konstrukcja zarysu ostrego gwintu stożkowego o dwusiecznych kątów gwintu prostopadłych do tworzących stożka 15.6.2. Średnica podziałowa 15.6.3. Pomiar kąta gwintu 15.6.4. Pomiar podziałki 15.6.5. Pomiar średnicy podziałowej sposobem trójwałeczkowym 15.7. Pomiary gwintów współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi 15.7.1. Pomiary metodą stykową 15.7.2. Pomiary metodą optyczną 16. Pomiary kół zębatych 16.1. Parametry opisujące postać konstrukcyjną koła zębatego 16.2. Definicje i pomiary wybranych odchyłek kół zębatych 16.2.1. Odchyłki kinematyczne 16.2.2. Pomiary odchyłek podziałki 16.2.3. Odchyłka bicia promieniowego uzębienia 16.2.4. Pomiar odchyłek promieniowych złożonych 16.2.5. Odchyłka podziałki przyporu 16.2.6. Odchyłki zarysu 16.2.7. Odchyłki linii zęba 16.2.8. Pomiar grubości zęba— pomiar po łuku 16.2.9. Pomiar grubości zęba — pomiar cięciwy 16.2.10. Pomiar grubości zęba — pomiar długości pomiarowej 16.2.11. Pomiar grubości zęba — pomiar przez wałeczki lub kulki 16.3. Układ tolerancji przekładni i kół zębatych 17. Metody statystyczne w zapewnieniu jakości 17.2. Karty kontrolne 17.3. Karty kontrolne Shewarta 17.3.1. Karty kontrolne przy liczbowej ocenie właściwości 17.3.2. Karty wartości średniej X i rozstępu-R lub odchylenia standardowego 17.3.3. Karty kontrolne pojedynczych obserwacji 17.3.4. Karty kontrolne mediany Me 17.4. Zmienność własna i całkowita procesu 17.5. Środki techniczne statystycznego sterowania procesem
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 155141 N (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Tyt. oryg. : Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement.
Bibliogr.s. [192]
Sygnatura czytelni BWEAiI: IX F 28
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Biblioteka WEAiI
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 110138 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Publikacja stanowi syntezę trzech prac doktorskich : Kozyra A. "Wyznaczanie parametrów modeli elektrod jonoselektywnych dla potrzeb pomiarów wieloskładnikowych", Politechnika Śląska, Instytut Automatyki, Gliwice, 2004 ; Wiora A. "Badania elektrod jonoselektywnych dla potrzeb identyfikacji ich modeli dynamicznych", Politechnika Śląska, Instytut Automatyki, Gliwice, 2006 ; Wiora J. " Charakterystyka błędów pomiarowych spowodowanych uproszczeniem modeli zjawisk fizyko-chemicznych w wieloskładnikowych pomiarach potencjometrycznych, Politechnika Śląska, Instytut Automatyki, Gliwice, 2006 - inf. z "Przedmowy".
Na stronie redakcyjnej błędny zapis : ISBN 83-60-716-18-8.
Bibliografia na stronach 215-222.
Rozdział 1. Potencjometria i elektrody jonoselektywne 1.1.Elektrody jonoselektywne w medycynie 1.2.Pomiary potencjometryczne w przemyśle 1.3.Zastosowanie elektrod jonoselektywnych w ochronie środowiska 1.4.Potencjometria stosowana w nauce 1.4.1.Badania z użyciem mikroelektrod 1.4.2.Badanie kinetyki reakcji Rozdział 2. Rodzaje elektrod jonoselektywnych 2.1.Elektrody z membraną szklaną 2.2.Elektrody z membraną krystaliczną 2.3.Elektrody z membraną ciekłą 2.4.Elektroda z kontaktem stałym 2.5.Biosensory 2.6.Czujniki gazowe 2.7.Czujniki półprzewodnikowe 2.8.Elektroda odniesienia Rozdział 3. Definicje podstawowych wielkości chemicznych stosowanych w potencjometrii 3.1.Stężenie 3.1.1.Stężenie molowe - molarność 3.1.2.Stężenie molalne - molalność 3.1.3.Inne miary stężeń 3.2.Aktywność 3.3.Siła jonowa 3.4.pH, pX Rozdział 4. Metody szacowania niepewności pomiaru 4.1. Błąd pomiaru 4.1.1.Błąd systematyczny 4.1.2.Błąd przypadkowy 4.2. Niepewność pomiaru 4.2.1.Niepewność rozszerzona pomiaru 4.2.2.Szacowanie niepewności metodą typu A 4.2.3.Szacowanie niepewności metodą typu B Rozdział 5. Modelowanie zjawisk fizykochemicznych w potencjometrii 5.1.Modele opisujące zależność potencjału ISE od stężenia jonów w próbce 5.1.1.Potencjał na granicy faz membrana | próbka 5.1.2.Potencjał membranowy 5.1.3.Potencjał złącza ciekłego 5.2.Modele współczynnika aktywności 5.2.1.Model Debye'a-Huckela 5.2.2.Prawo graniczne Debye'a-Huckela 5.2.3.Model Guntelberga 5.2.4.Model Guggenheima 5.2.5.Model Daviesa 5.2.6.Model Bromleya 5.2.7.Model Pitzera 5.2.8.Przybliżenie średnio-sferyczne (MSA) Rozdział 6. Dynamika w pomiarach potencjometrycznych 6.1.Czynniki wpływające na czas odpowiedzi elektrody 6.2.Modele odpowiedzi czasowej elektrody jonoselektywnej 6.2.1.Model Rechnitza-Hameki 6.2.2.Model Tóth-Pungora 6.2.3.Model Lindnera 6.2.4.Modele Shatkaya 6.2.5.Model Buffle'a-Parthasarathy 6.2.6.Model Morfa 6.2.7.Modelowanie za pomocą sieci neuronowych 6.2.8.Dynamiczny model dyfuzyjny 6.2.9.Model z parametrem k 6.2.10.Praktyczny czas odpowiedzi 6.3.Porównanie właściwości dynamicznych wybranych elektrod 6.3.1.Błąd dynamiczny 6.3.2.Badania eksperymentalne Rozdział 7. Metody pomiaru aktywności jonów z użyciem elektrod jonoselektywnych 7.1.Pomiar bezpośredni 7.2.Metody dodatku wzorca 7.3.Metody CFA i FIA 7.4.Metody miareczkowania potencjometrycznego 7.5.Pomiar wieloskładnikowy Rozdział 8. Metody kalibracji w pomiarach potencjometrycznych 8.1. Wyznaczanie nachylenia charakterystyki elektrody i potencjału odniesienia 8.2.Wyznaczanie granicy wykrywalności 8.3.Wyznaczanie parametrów Ef, Si i ao,, elektrod w jednej procedurze pomiarowej 8.4.Wyznaczanie współczynników selektywności 8.4.1.Metoda roztworów mieszanych FIM 8.4.2.Metoda FPM 8.4.3.Metoda TSM 8.4.4.Metoda MPM 8.4.5.Metoda roztworów rozdzielonych SSM 8.5.Wyznaczanie punktu izopotencjalnego 8.6.Wyznaczanie parametrów elektrod na potrzeby pomiarów wieloparametrowych 8.7.Wyznaczanie parametrów elektrod metodą optymalnego dopasowania do kształtu charakterystyki 8.7.1.Przekształcenie modelu Nikolskiego-Eisenmana 8.7.2.Symulacyjne testowanie opracowanej metody 8.8.Wykorzystanie sieci neuronowych Rozdział 9. Źródła niepewności w pomiarach potencjometrycznych 9.1.Zastosowanie uproszczonego modelu współczynnika aktywności 9.1.1.Przykładowy roztwór o sile jonowej 1 mol/kg 9.1.2.Mieszanina wielu elektrolitów 9.2.Wpływ zjawisk zachodzących w elektrodzie odniesienia na niepewność pomiaru 9.3.Zjawiska zachodzące w układzie pomiaru SEM ogniwa 9.3.1.Zakłócenia zmienne 9.3.2.Niepewność, której źródłem jest rezystancja miernika 9.3.3.Niepewność pomiaru napięcia 9.3.4.Wpływ metodyki pomiaru na niepewność 9.3.5.Przechowywanie elektrod 9.4.Niepewność wynikająca ze zmian temperatury Rozdział 10. Szacowanie niepewności w pomiarach wieloskładnikowych 10.1.Założenia - koncepcja jonometru wieloskładnikowego 10.2.Procedura pomiaru wieloskładnikowego 10.3.Przykłady pomiarów wieloskładnikowych 10.4.Ocena zakresu pomiarowego aktywności 10.5.Metoda szacowania niepewności pomiaru wieloskładnikowego 10.6.Niepewność pomiaru SEM ogniwa 10.7.Szacowanie niepewności metodą typu A 10.8.Wieloparametrowe procedury wyznaczania parametrów elektrod 10.8.1.Założenia dotyczące procedury kalibracji 10.8.2.Uproszczona pełna procedura kalibracji (UP) 10.8.3.Uproszczona niepełna procedura kalibracji (UNP) 10.8.4.Kalibracja za pomocą jednego wzorca (UE0) 10.9.Doświadczalne szacowanie niepewności metodą typu B 10.9.1.Stanowisko badawcze 10.9.2.Analiza dokładności wykonania wzorców 10.9.3.Referencyjna procedura kalibracji 10.9.4.Dobór aktywności jonów w roztworach wzorcowych 10.9.5.Rozrzut wartości parametrów elektrod jonoselektywnych 10.9.6.Zmiany wartości parametrów elektrod w czasie 10.9.7.Wpływ zastosowania metod uproszczonych na niepewność pomiarów 10.9.8.Ocena wpływu temperatury na wartości wyznaczanych parametrów 10.10. Ocena niepewności złożonej pomiaru wieloskładnikowego 10.10.1.Niepewność w warunkach odniesienia 10.10.2.Dodatkowe czynniki wpływające na niepewność pomiaru
Sygnatura czytelni BMW: IX E 1 (nowy)
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 2 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 121264, 149961 (2 egz.)
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 121263 N (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Monografie Politechniki Krakowskiej. Mechanika)
Bibliografia, netografia, wykaz norm na stronach [142]-157.
1.Charakterystyka redundantnych systemów pomiarowych na przykładzie współrzędnościowych ramion pomiarowych 2.1.Budowa współrzędnościowych ramion pomiarowych. Podstawowe zespoły 2.2.Roboty przemysłowe jako redundantne systemy pomiarowe 3.Kinematyka redundantnych urządzeń pomiarowych o stałych węzłach kinematycznych 3.1.Zadanie proste kinematyki określające pozycję i orientację końcówki i trzpienia pomiarowego RSP 3.2.Analiza dokładności manipulatora-jakobian 4.Niepewności pomiaru 4.1. Klasyczne metody oceny dokładności 5.Wyznaczenie niepewności pomiaru metodą symulacyjną 6.1.Podstawa budowy modelu funkcjonalnego metrologicznego - model I 6.2.Błędy RSP na podstawie współrzędnościowych ramion pomiarowych wraz z ich korekcją 6.3.Podstawa budowy modelu metrologicznego - model II 6.4.Wirtualne redundantne systemy pomiarowe (WRSP) 6.5.Wirtualne ramię pomiarowe jako przedstawiciel wirtualnego manualnego redundantnego systemu pomiarowego 7.Robot przemysłowy jako redundantny zautomatyzowany współrzędnościowy system pomiarowy 7.1.Sprawdzenie poprawności działania robota przemysłowego 7.2.Adaptacja robota przemysłowego do pomiarów współrzędnościowych 7.3.Ocena dokładności robota z głowicą pomiarową według normy ISO 10360-12 7.4.Model i korekcja głowicy stykowej 7.5. Budowa wirtualnego robota pomiarowego 7.5.1. Wirtualny redundantny robot pomiarowy 8.Analiza dokładności wyników pomiarów wykonanych metodą symulacyjną wirtualnych redundantnych urządzeń pomiarowych 9.Kierunki dalszego rozwoju symulacyjnego systemu redundantnych urządzeń pomiarowych
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 147250, 148604 (2 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Monografie Politechniki Krakowskiej. Mechanika)
Bibliografia, netografia, wykaz norm na stronach [143]-152.
2. Współrzędnościowa technika pomiarowa - systemy optyczne stosowane w inżynierii produkcji 9 2.1. Współrzędnościowa technika pomiarowa 9 2.2. Optyczne współrzędnościowe metody pomiarowe 12 2.2.1. Metoda skanowania laserowego 13 2.2.1.1. Triangulacja laserowa 13 2.2.1.2. Metoda oparta na czasie powrotu impulsu - TOF 14 2.2.1.2.1. Laserowy system nadążny 15 2.2.2. Metoda projekcji światła strukturalnego 16 2.2.2.1. Metoda projekcji mory 18 2.2.3. Metoda fotogrametryczna 19 2.3. Optyczne współrzędnościowe systemy pomiarowe stosowane w Laboratorium Metrologii Współrzędnościowej - wykorzystane w pracy 20 2.3.1. Współrzędnościowa maszyna pomiarowa 21 2.3.2. Współrzędnościowe ramię pomiarowe 22 2.3.3. System optyczny ze światłem strukturalnym 23 2.3.4. Oprogramowania metrologiczne do pracy z chmurą punktów stosowane w LMW 24 3. Analiza stanu wiedzy z zakresu tematu pracy 26 3.1. Ośrodki podejmujące badane zagadnienie 26 3.2. Niepewność pomiarów współrzędnościowych 28 3.3. Niepewności pomiaru w praktyce 32 3.3.1. System Expert 32 3.3.2. Oprogramowania do szacowania niepewności pomiaru 33 3.3.2.1. GUM Workbench 33 3.3.2.2. Krajowe oprogramowania 34 3.3.2.2.1. Virtual MMC PK 34 3.3.2.2.2. EMU 35 4. Hipoteza, cel i zakres pracy 37 5. Opracowanie modelu niepewności we współrzędnościowych pomiarach optycznych 43 5.1. Badanie kluczowych czynników wpływających na niepewność pomiaru optycznego 43 5.1.1. Wpływ oświetlenia na wynik współrzędnościowego pomiaru optycznego 45 5.1.1.1. Natężenie oraz temperatura barwowa światła 45 5.1.1.2. Ocena wpływu oświetlenia na wynik pomiaru 47 5.1.2. Wpływ rozdzielczości strukturalnej na wynik współrzędnościowego pomiaru optycznego 54 5.1.3. Wpływ operatora na wynik współrzędnościowego pomiaru optycznego 58 5.1.3.1. Praca operatora z chmurą punktów 58 5.1.3.2. Praca operatora z systemem optycznym 62 5.1.4. Wpływ użytego oprogramowania na wynik współrzędnościowego pomiaru optycznego 63 5.1.5. Wpływ metody szacowania niepewności na wynik współrzędnościowego pomiaru optycznego 65 5.2. Opracowanie metody szacowania niepewności OPTI-U 68 5.2.1. Metody stosowane dotychczas w LMW 68 5.2.1.1. Metoda wielopozycyjna 68 5.2.1.2. Metoda porównawcza 69 5.2.2. Metoda szacowania niepewności OPTI-U 70 5.2.3. Walidacja metody szacowania niepewności OPTI-U 78 5.3. Opracowanie modelu wraz z ustaleniem wag poszczególnych oddziaływań składowych z wykorzystaniem elementów analizy statystycznej 81 5.3.1. Ustalenie składników modelu 81 5.3.2. Główna postać modelu 82 5.3.3. Ustalenie wag poszczególnych oddziaływań składowych 83 5.3.3.1. Wybór odpowiedniej metody do rozwiązania problemu badawczego 83 5.3.3.2. Regresja wieloraka - założenia 84 5.3.3.3. Opracowanie Bazy Danych Niepewności-konwersja 0/1 88 5.3.3.4. Uzupełnienie BDN - koncepcja projektowania wzorców z wykorzystaniem systemu FDM 92 5.3.3.5. Instalacja i aktywacja dodatków Analysis ToolPak i Solver programu Excel 95 5.3.3.6. Przeprowadzenie regresji wielorakich na opracowanej bazie danych 96 5.3.3.7. Test korelacji i korekta wyniku 99 6. Szacowanie niepewności współrzędnościowego pomiaru optycznego w oparciu o metodę parametryczną wykorzystującą opracowany model oraz macierz doboru 103 6.1. Metoda parametryczna w kontekście systemu Expert 103 6.2. Metoda parametryczna - opracowanie 105 7. Prototyp aplikacji OPTI-U parametric do szacowania niepewności pomiaru 112 7.1. Wybór narzędzi do opracowania prototypu aplikacji OPTI-U Parametric 112 7.2. Projekt Bazy Danych Niepewności w programie SQLite 114 7.3. Prototyp aplikacji OPTI-U Parametric w programie SharpDevelop 115 7.4. Zastosowanie aplikacji OPTI-U Parametric w praktyce 121 8. Badania weryfikacyjne i ocena metody parametrycznej 123 8.1. Walidacja metody parametrycznej - dwustronna miara rozbieżności 123 8.2. Weryfikacja wprost, poprawności oszacowania niepewności metodą parametryczną z uwzględnieniem wpływu zgodności zadań pomiarowych 127 8.3. Ocena metody parametrycznej - podsumowanie 136 9. Wnioski i kierunki dalszych badań 138
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Wszystkie egzemplarze są obecnie wypożyczone: sygn. 146575 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Technisches Messen in Einzeldarstellungen ; Bd. 5 )
Bibliogr. s. 80-82. Indeks.
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
w opracowaniu: sygn. 27819 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Wizyjne metody pomiarowe w diagnostyce górnej sieci trakcyjnej / Jacek Skibicki. - Wydanie 1. - Gdańsk : Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, 2018. - 226 stron : ilustracje, fotografie, wykresy ; 24 cm.
(Monografie / Politechnika Gdańska 174)
Bibliografia, wykaz norm na stronach 210-222.
Diagnostyka górnej sieci trakcyjnej i odbieraków prądu 2.l' Podstawowe informacje o sieci trakcyjnej i odbierakach prądu 2.1'1. Budowa górnej sieci trakcyjnej 2.L2. odbieraki prądu Ż.2. Znaczenie diagnostyki górnej sieci trakcyjnej i odbieraków prądu 2.3.Przeg|ąd systemów diagnostyki stanu technicznego sieci trakcyjnej i odbieraków prądu 2.3.1. Diagnostyka sieci trakcyjnej 2.3.2. Diagnostyka odbieraków prądu 2.3.3. Monitoring współpracy odbieraków prądu z siecią trakcyjną 3. wizyjna metoda pomiaru geometrii i przemieszczeń sieci trakcyjnej 3.1. Zasada pomiaru wizyjnego z użyciem kamery obrazowej 3.2. Metoda wizyjna do pomiaru przemieszczeń elementów sieci trakcyjnej wywołanych oddziaływaniem odbieraka prądu pojazdu 3.2. l. Pomiar przemieszczeń elementów sieci trakcyjnej w konfiguracji przestrzennej ,,2 boku" 3.2.2. Pomiar przemieszczeń elementów sieci trakcyjnej w konfiguracji przestrzennej ,,2 ukosa" 3.3. Metoda wizyjna do pomiaru geometrii przewodów jezdnych sieci trakcyjnej w celach diagnostycznych 3.3.l ' Specyfika pomiaru geometrii sieci jezdnej na łuku wymagane poprawki 3.3.2. Korekta ruchów pudła wagonu diagnostycznego 3.4. Wymagania sprzętowe, dobór przyrządów pomiarowych i wyposażenia dodatkowego 3.4.1. Kamera obrazowa 3.4.2. Obiektywy 3.4.3. Karta przechwytywania obrazu wraz z urządzeniem rejestrującym 3.4'4' oświetlacz szczelinowy 3.4.5. Filtr optyczny Pozostały sprzęt pomiarowy i rejestrujący oraz oprogramowanie 4. przetwarzanie Obrazu w wizyjnych systemach pomiarowych 4.1.1. Etapy przetwarzania obrazu 4.1.l.l. Wyciąg barwny 4.1.1.2. Progowanie barwne 4.1. l.3. Przekształcenia morfologiczne . 4.l.1.4. Częściowa filtracja 4. l.l.5. odczytanie położenia punktów pomiarowych na matrycy 4'2' Zagadnienie korekty błędów przetwarzania obrazu 4'3. Uzyskanie wyniku pomiaru połozenia obrazu obiektu na matrycy 5. Analiza niepewności pomiaru 5'l. Niepewność pomiaru informacje ogólne 5.2. Kamera jako przyrząd pomiarowy 5.2. l. Wpływ poziomu oświetlenia_ jasności obrazu mierzonego obiektu ' 5.2.2' Wpływ czułości matrycy kamery 5.2.3' wpływ odległości od obiektu mierzonego związanej z ogniskową zastosowanego obiektywu 5.2.4' Niepewność pomiaru współrzędnych obiektu na powierzchni matrycy kamery w stabilnych warunkach środowiskowych 5.2.5. Wpływ zmian temperatury otoczenia i procesów termicznych zachodzących wewnątrz kamery 5.2.6' Wpływ drgań komunikacyjnych 5'2"7. Pomiar współrzędnych obiektu na powierzchni matrycy kamery w zmiennych warunkach środowiskowych 5.3. wpływ konfiguracji przestrzennej na niepewność dla pomiarów przemieszczeń elementów sieci trakcyjnej wywołanych oddziaływaniem odbieraka prądu 5.3' 1. Niepewność pomiaru dla wariantu ,'na wprost'' 5.3.l.l. Współczynniki wrażliwości 5.3.1.2. Niepewność pomiaru odległości ł pomiędzy centralnym punktem płaszczyzny obiektu a płaszczyzną obrazu 5.3' 1.3. Niepewność pomiaru odległości Ą pomiędzy środkiem optycznym obiek6lwu a płaszczyzną obrazu 5.3.1.4. Niepewność pomiaru położenia obrazu obiektu x',y'na powierzchni matrycy 5.3.1'5.Końcowaniepewnośćstandardowapomiarudlawarianfu,,nawprost'' 5.3.2. Niepewność pomiaru dla wariantu,,z boku'' 5.3.2.1' Współczynniki wrażliwości dla pomiaru w osi poziomej -r 5.3.2.2. Współczynniki wrażliwości dla pomiaru w osi pionowej y 5'3.2.3. Niepewność pomiaru kąta a pomiędzy osią optyczną obiektu a przewodem jezdnym 5.3.2.4. Końcowa niepewność standardowa pomiaru dla warianfu ''z boku'' 5.3.3. Niepewność pomiaru dla warianfu ,,z ukosa'' pomiaru w osi poziomej x 5.3.3.2. Współczynniki wrażliwości dla pomiaru w osi pionowej y 5.3.3.3. Niepewność pomiaru kąta B,tj. nachylenia kamery względem poziomu 5.3.3.4. Końcowa niepewność standardowa pomiaru dla wariantu ,,z ukosa'' 5.3.4. Weryfikacja pomiarowa 5.a. Wpływ zmiany odległości pomiędzy kamerą a obiektem na niepewność dla pomiarów przemieszczeń elementów sieci trakcyjnej wywołanych oddziaływaniem odbieraką prądu 5'4.l. Minimalna odległość pomiaru 5.4'2' Maksymalna odległość pomiaru 5.4.3. Współczynniki wrażliwości 5.4'4' Niepewności pomiarów pośrednich 5.4.4.l. Niepewność pomiaru odległości ł pomiędzy centralnym punktem Płaszczyzny obiekru a płaszczyzną obrazu 5.4.4.Ż. Niepewność pomiaru odległości ,F'r pomiędzy środkiem optycznym obiektywu a płaszczyzną obrazu 5.4.4.3. Niepewność pomiaru położenia obrazu obiektu x',y'na powierzchni matrycy 5.4.4.4. Niepewność pomiaru kąta p,t1. nachylenia kamery względem poziomu 5.4'4.5. Niepewność pomiaru kąta a pomiędzy płaszczyzną, w której leży oś optyczna obiektywu' a płaszczyzną, w której leży przewód jezdny 5.4.5. Niepewność pomiaru końcowego 5.4.6. Weryfikacja pomiarowa 5.5. Niepewność pomiaru geometrii kolejowej sieci trakcyjnej przy użyciu wagonu diagnostycznego 5.5.1. Niepewność pomiaru w warunkach normalnych 5.5.1.1. Współczynniki wrażliwości 5.5.1.Ż. Niepewności pomiarów cząstkowych 5.5.1'3. Końcowa niepewność pomiaru w warunkach normalnych 5.5.2. Poziom niepewności dla pomiarów wykonywanych w warunkach innych niż normalne 5.5'2.1. Poziom niepewności dla pomiarów wykonywanych na łuku 5.5.2.2' Poziom niepewności dla pomiarów wykonywanych przy obecności poprzecznych wahań pudła pojazdu 5.5.3. Możliwości ograniczenia poziomu niepewności pomiaru 6. Rezultaty badań eksperymentalnych 6.l. Pomiary oscylacji krótkiego odcinka przewodu jezdnego zamocowanego jednostronnie ó.1.1.Metodaiprzedmiotpomiaru 6.2. Pomiary oscylacji odcinka przewodu jezdnego zamocowanego dwustronnie 6.2.1. Metoda i przedmiot pomiaru 6.3. Pomiary oscylacji sieci trakcyjnej jednoprzewodowej 6.3.1. Metoda i przedmiot pomiaru 6.4' Detekcja krytycznie uszkodzonych nakładek stykowych odbieraków prądu 6.4.1. Metoda i przedmiot pomiaru 6.4.2. Wyniki pomiarów 6'5' Pomiary diagnostyczne kolejowej sieci trakcyjnej 6.5.1. Metoda i przedmiot pomiaru 6.5.2.1. Pomiary w warunkach normalnvch, d. dla toru prostego w dobrym stanie technicznym 6.5.2.2. Wyniki pomiarów podczas jazdy po fuku 6.5.2.3. Wyniki pomiarów przy obecności poprzecznych wahań pudła pojazdu 6.5.3. Możliwości oceny stanu technicznego sieci trakcyjnej przy użyciu wizyjnego systemu pomiarowego ó.5.3.l. ocena kompensacji termicznej sieci trakcyjnej 6.5.3.2. Kontrola stanu technicznego wieszaków 6.5.3.3. Pomiar geometrii sieci trakcyjnej w przęśle naprężenia 6'5.3.4. Pomiar geometrii sieci trakcyjnej w obszarze rozjazdów
Sygnatura czytelni BMW: VII H 187(174) (nowy)
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 146478 LE N (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 2 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 124824 (1 egz.)
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. M 11963 N (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 3 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 113750 (1 egz.)
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. M 9543 N (1 egz.)
Biblioteka WEAiI
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 113749 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 2 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. S 72038 (1 egz.)
Magazyn
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. S 72051 (1 egz.)
Pozycja została dodana do koszyka. Jeśli nie wiesz, do czego służy koszyk, kliknij tutaj, aby poznać szczegóły.
Nie pokazuj tego więcej

Deklaracja dostępności