Adamczak Stanisław (1948- )
Sortowanie
Źródło opisu
Książki, czasopisma i zbiory specjalne
(34)
Forma i typ
Książki
(34)
Publikacje dydaktyczne
(1)
Publikacje fachowe
(1)
Publikacje naukowe
(1)
Dostępność
dostępne
(27)
tylko na miejscu
(13)
nieokreślona
(1)
Placówka
Wypożyczalnia
(27)
Biblioteka Międzywydziałowa
(6)
Magazyn
(6)
Biblioteka WEAiI
(2)
Autor
Berłowski Paweł
(189)
Kotowski Włodzimierz
(179)
Praca zbiorowa
(157)
Skoczylas Zbigniew
(152)
Stiasny Grzegorz
(143)
Adamczak Stanisław (1948- )
(-)
Sadlik Ryszard
(142)
Blum Maciej
(140)
Michalski Dariusz
(134)
Lewandowski Maciej
(131)
Majewski Jerzy S
(131)
Etzold Hans-Rüdiger
(120)
Leśniewski Mariusz
(116)
Gewert Marian
(108)
Maruchin Wojciech
(107)
Guryn Halina
(105)
Traczyk Wojciech
(101)
Chalastra Michał
(99)
Kardyś Marta
(97)
Marx Karl (1818-1883)
(94)
Nazwisko Imię
(94)
Berkieta Mateusz
(93)
Tomczak Małgorzata
(93)
Polkowski Sławomir
(92)
Engels Friedrich (1820-1895)
(91)
Jakubiec Izabela
(90)
Kotapski Roman
(90)
Rybicki Piotr
(90)
Krysicki Włodzimierz (1905-2001)
(88)
Teleguj Kazimierz
(88)
Kapołka Maciej
(86)
Mikołajewska Emilia
(84)
Zaborowska Joanna
(81)
Piątek Grzegorz
(79)
Rudnicki Bogdan
(79)
Starosolski Włodzimierz (1933- )
(79)
Meryk Radosław
(78)
Górczyński Robert
(77)
Polit Ryszard
(77)
Mroczek Wojciech
(76)
Kulawik Marta
(74)
Mycielski Krzysztof
(74)
Myszkorowski Jakub
(73)
Konopka Eduard
(71)
Jabłoński Marek
(70)
Bielecki Jan (1942-2001)
(69)
Knosala Ryszard (1949- )
(68)
Rajca Piotr (1970- )
(68)
Rymarz Małgorzata
(68)
Walczak Krzysztof
(68)
Walkiewicz Łukasz
(68)
Wiecheć Marek
(68)
Jabłoński Adam
(67)
Laszczak Mirosław
(66)
Piwko Łukasz
(66)
Wodziczko Piotr
(65)
Dziedzic Zbigniew
(64)
Sidor-Rządkowska Małgorzata
(64)
Żakowski Wojciech (1929-1993)
(64)
Pasko Marian
(62)
Włodarski Lech (1916-1997)
(62)
Czakon Wojciech
(61)
Leyko Jerzy (1918-1995)
(61)
Jankowski Mariusz
(60)
Kostecka Alicja
(60)
Paszkowska Małgorzata
(60)
Wróblewski Piotr
(60)
Karpińska Marta
(59)
Lenin Włodzimierz (1870-1924)
(59)
Próchnicki Wojciech
(59)
Rogala Elżbieta
(59)
Bielecki Maciej
(57)
Jelonek Jakub
(57)
Malkowski Tomasz
(57)
Pilch Piotr
(57)
Rauziński Robert (1933- )
(57)
Gawrońska Joanna
(56)
Ajdukiewicz Andrzej (1939- )
(55)
Cieślak Piotr
(55)
Draniewicz Bartosz
(55)
Godek Piotr
(55)
Osiński Zbigniew (1926-2001)
(55)
Jasiński Filip
(54)
Kuliński Włodzisław
(54)
Suchodolski Bogdan (1903-1992)
(54)
Forowicz Krystyna
(53)
Klupiński Kamil
(53)
Szkutnik Leon Leszek
(52)
Zdanikowski Paweł
(52)
Wantuch-Matla Dorota
(51)
Barowicz Marek
(50)
Trammer Hubert
(50)
Walczak Tomasz
(50)
Watrak Andrzej
(50)
Zgółkowa Halina (1947- )
(50)
Barańska Katarzyna
(49)
Czajkowska-Matosiuk Katarzyna
(49)
Jurlewicz Teresa
(49)
Pikoń Andrzej
(49)
Szargut Jan (1923- )
(49)
Chojnacki Ireneusz
(48)
Rok wydania
2020 - 2024
(1)
2010 - 2019
(9)
2000 - 2009
(15)
1990 - 1999
(7)
1980 - 1989
(2)
Okres powstania dzieła
2001-
(1)
Kraj wydania
Polska
(34)
Język
polski
(25)
angielski
(8)
niemiecki
(1)
Odbiorca
Inżynierowie
(1)
Szkoły wyższe
(1)
Temat
Metrologia
(16)
Maszyny
(8)
Politechnika Świętokrzyska
(5)
Doktor honoris causa
(4)
Pomiary
(4)
Inżynieria powierzchni
(3)
Inżynierowie
(3)
Jakość produktu
(3)
Powierzchnia
(3)
Tolerancje i pasowania
(3)
Czujniki pomiarowe
(2)
Diagnostyka
(2)
Diagnostyka techniczna
(2)
Przyrządy pomiarowe
(2)
Technologia
(2)
Buzek, Jerzy (1940- )
(1)
Cięcie metali
(1)
Części maszyn
(1)
Engel, Zbigniew (1933- )
(1)
Hałas
(1)
Kluszczyński, Krzysztof (1950- )
(1)
Konstrukcja maszyn
(1)
Kowal, Janusz (1949- )
(1)
Mechanika
(1)
Mechanika stosowana
(1)
Metrologia wielkości geometrycznych
(1)
Osiecki, Jan Wojciech (1930- )
(1)
PROCESY OBRÓBKI
(1)
Politycy
(1)
Pomiary wielkości geometrycznych
(1)
Procesy technologiczne
(1)
Przedmioty o złożonych kształtach
(1)
Przemysł
(1)
Skrawanie
(1)
Struktura geometryczna powierzchni
(1)
Systemy pomiarowe
(1)
Technika
(1)
Technika pomiarowa współrzędnościowa
(1)
Urządzenia technologiczne
(1)
Zarządzanie jakością
(1)
Temat: czas
2001-
(7)
1901-2000
(1)
Temat: miejsce
Kielce (woj. świętokrzyskie)
(2)
Gatunek
Ćwiczenia i zadania dla szkół wyższych
(7)
Biografia
(4)
Mowy polskie
(4)
Materiały konferencyjne
(3)
Ćwiczenia i zadania
(2)
Podręcznik
(1)
Podręczniki akademickie
(1)
Dziedzina i ujęcie
Inżynieria i technika
(1)
34 wyniki Filtruj
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 133998 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Skrypty / Politechnika Świętokrzyska, ISSN 0239-6386 ; nr 284)
(Mechanika)
Bibliogr. s. 86-87.
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. S 65054 L (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Skrypty Uczelniane Politechniki Świętokrzyskiej, ISSN 0239-6386 ; nr 216)
Bibliogr. s. 86-87.
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. S 61720 L (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Skrypty / Politechnika Świętokrzyska w Kielcach, ISSN 0239-6386 : nr 251)
Bibliogr. s. 86-87.
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. S 63419 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. S 55867 L (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Skrypty / Politechnika Świętokrzyska w Kielcach, ISSN 0239-6386 ; nr 252)
Wyd. 1 pod hasłem : Adamczak Stanisław, Komorniczak Jerzy, Korcipa Stanisław.
Bibliogr. s. 215-216.
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. S 63418 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Skrypty / Politechnika Świętokrzyska w Kielcach, ISSN 0239-6386 ; nr 139)
Wyd. 1 pod hasłem : Adamczak Stanisław, Komorniczak Jerzy, Korcipa Stanisław.
Bibliogr. s. 215-216.
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. S 58256 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Magazyn
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 117898 LE (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Magazyn
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 117899 LE (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 133340 (1 egz.)
Książka
W koszyku
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak. - Wydanie I. - Warszawa : PWN, copyright 2023. - 436 stron : fotografie, ilustracje, wykresy ; 24 cm.
Bibliografia, wykaz norm na stronach 420-432.
Dla metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowgo czy specjalistów projektowania przemysłowego, studentów kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inzynieria medyczna czy logistyka.
Ogólne sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni Sposób przybliżony Sposób mechaniczno-geometryczny Sposób wykorzystujący filtrację elektryczną Sposób z wykorzystaniem filtru odcinającego Sposób z wykorzystaniem analizy falkowej Tolerancje geometryczne Zarysy kształtu Zarysy odnoszące się do kierunku Zarysy odnoszące się do położenia elementu Zarysy odnoszące się do bicia Zamknięte zarysy okrągłości i falistości powierzchni Metody oceny zarysu okrągłości Analiza harmoniczna Parametry oceny zarysów okrągłości Parametry zarysów okrągłości według najnowszych norm Metody pomiaru zmian promienia Błędy przyrządów pomiarowych Nadzór metrologiczny przyrządów Program komputerowy ROFORM Komputeryzacja przyrządów pomiarowych Przykłady wyników pomiarów okrągłości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości Zasada pomiaru w metodach odniesieniowych Rodzaje metod odniesieniowych Zalecane parametry metod odniesieniowych Transformacja zarysu zmierzonego na zarys rzeczywisty Komputeryzacja metod odniesieniowych Program komputerowy SAJD Przybliżona metoda oceny odchyłki okrągłości Istota odwróconych odniesieniowych metod pomiaru Odniesieniowe metody pomiaru do oceny falistości powierzchni dla zarysów zamkniętych Zarysy walcowości Pomiary zarysów walcowości ustalane metodą oceny zmian promieni Parametry oceny zarysów walcowości Dodatkowe parametry oceny zarysów walcowości Strategie pomiarowe Ocena zarysów walcowości – zasady prowadzenia pomiarów Eksperymentalna weryfikacja opracowanych strategii pomiarowych zarysów walcowości Komputeryzacja przyrządów pomiarowych Program komputerowy CYFORM Pomiary zarysów walcowości metodami odniesieniowymi Istota pomiarów zarysów walcowości Koncepcja odniesieniowych pomiarów zarysów walcowości Określenie zależności między zarysem zmierzonym a rzeczywistym Współrzędnościowe pomiary zarysów walcowości Zarysy prostoliniowości Parametry oceny zarysów prostoliniowości Filtrowanie zarysów prostoliniowości Technika pomiarów zarysów prostoliniowości Program komputerowy LIFORM Badania eksperymentalne Ocena mikro- i nanochropowatości oraz falistości powierzchni Pomiary profilu Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych Zasady i warunki prowadzenia pomiarów Wzorce kontrolne i użytkowe Komputeryzacja przyrządów do pomiaru falistości i chropowatości powierzchni Pomiary przestrzenne Parametry oceny powierzchni w układzie 3D Parametry związane z funkcyjnym przedstawieniem powierzchni w układzie 3D Wzorce przestrzennych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni Kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu Istota kompleksowych pomiarów zarysów niedomkniętych Program komputerowy PROFORM Kompleksowa ocena zarysu Ocena profilu chropowatości powierzchni Ocena profilu falistości powierzchni Ocena zarysu kształtu Statystyczna analiza wyników pomiaru Przykładowe kompleksowe pomiary zaczerpnięte z praktyki przemysłowej Statystyczne badania porównawcze przyrządów Eksperymentalny błąd pomiaru dla porównywanych przyrządów Statystyczne wyznaczenie błędu pomiaru odniesieniowych metod pomiarów zarysów okrągłości dla wybranych próbek z uwzględnieniem wartości odchyłki okrągłości Procedury estymacji i testu istotności dla wartości średniej eksperymentalnego błędu pomiaru
Procedury estymacji i testu istotności dla wariancji i odchylenia średniego eksperymentalnego błędu pomiaru Oszacowanie przedziału ufności pojedynczego błędu pomiaru Ocena przykładowych wyników statystycznego testowania błędu pomiaru skomputeryzowanego odniesieniowego przyrządu pomiarowego z wzorcowym przyrządem Talyrond 73, którego działanie oparto na metodzie pomiaru zmian promienia Metoda statystycznego porównywania zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego Procedura estymacji punktowej współczynnika korelacji Przykładowa ocena wyników badań statystycznych porównywanych zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego Przyrządy pomiarowe Ogólne informacje dotyczące elementów budowy i charakterystyki narzędzi pomiarowych Klasyfikacja przyrządów pomiarowych do pomiarów profilu Definicje dotyczące analizowanych profili Elementy składowe przyrządów stykowych Charakterystyki metrologiczne przyrządów Przykładowe wartości nominalne niektórych charakterystyk przyrządu Metody przestrzennego pomiaru powierzchni Metody profilowania liniowego Metody topografii przestrzennej Eksperymentalne porównanie wybranych metod przestrzennego pomiaru chropowatości powierzchni Odniesieniowe przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości Przegląd niektórych rozwiązań odniesieniowych przyrządów pomiarowych Rozwiązania oryginalnych pryzm wykorzystywanych do pomiarów odniesieniowych zarysów okrągłości Przyrząd do uzyskiwania wzorców zarysów okrągłości Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości metodą pomiaru zmian promienia (bezodniesieniowe) Rozwiązania konstrukcyjne stosowanych zespołów obrotowych wrzecion czujników pomiarowych Rozwiązania konstrukcyjne stołów obrotowych Przegląd przyrządów pomiarowych do oceny zarysów okrągłości Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów walcowości . Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym wrzecionem Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym stołem Przegląd przyrządów do pomiaru zarysu walcowości i innych błędów powierzchni Przyrządy stykowe do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni Profilometry Kształtografy . Przyrządy profilometryczne do kompleksowych pomiarów Przyrządy optyczne
Sygnatura czytelni BMW: VII W 37 (nowy)
Sygnatura czytelni BWEAiI: IX F 58
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 3 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 154462 N, 154465 N, 154464 N, 154466 N, 154463 N (5 egz.)
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 154468 N (1 egz.)
Biblioteka WEAiI
w opracowaniu: sygn. 154467 N (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Bibliogr. s. [188]-189.
Dla studentów wydziałów mechanicznych kierunków: mechanika w budowie maszyn, automatyka, robotyka, inżynieria produkcji oraz dla pracowników służb kontrolno-pomiarowych.
Sygnatura czytelni BMW: IV K 56 (nowy)
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. M 8615 N (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Bibliogr. s. [196]-197.
Dla studentów wydziałów mechanicznych kierunków: mechanika w budowie maszyn, automatyka, robotyka, inżynieria produkcji oraz dla pracowników służb kontrolno-pomiarowych.
Sygnatura czytelni BMW: IV K 79 (nowy)
Sygnatura czytelni BWEAiI: IX F 46
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 3 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 126643 (1 egz.)
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. M 11288 N (1 egz.)
Biblioteka WEAiI
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 126642 N (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 108362 L (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 140012 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
(Monografie, Studia, Rozprawy / Politechnika Świętokrzyska, ISSN 0239-4979 ; 12)
(Mechanika)
Bibliogr. s. [173]-180. Wykaz norm s. 181.
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 96521 L (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. M 12413 N (1 egz.)
Książka
W koszyku
Bibliogr. s. [284]-290. Indeks.
Dla specjalistów konstruktorów, technologów, a zwłaszcz pracowników służb kontrolno-pomiarowych podmiotów gospodarczych wytwarzających maszyny i urządzenia mechaniczne, oraz dla pracowników naukowo-technicznych, nauczycieli akademickich i studentów kierunków: mechanika i budowa maszyn, automatyka i roboyka, inżynieria materiałowa, transport.
Sygnatura czytelni BMW: IV K 83 (nowy)
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 2 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. M 11717, 122120 (2 egz.)
Biblioteka Międzywydziałowa
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 125404 N (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
1 placówka posiada w zbiorach tę pozycję. Rozwiń informację, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 93532 (1 egz.)
Brak okładki
Książka
W koszyku
Na s. tyt., okł.: CEEPUS - Central European Exchange Program for University Studies.
Na s. przedtyt. i s. red.: monograph.
Bibliogr. przy pracach. Netogr. przy niektórych pracach. Indeksy.
Ta pozycja znajduje się w zbiorach 2 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.
Wypożyczalnia
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 143770 (1 egz.)
Magazyn
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 143387 LE (1 egz.)
Pozycja została dodana do koszyka. Jeśli nie wiesz, do czego służy koszyk, kliknij tutaj, aby poznać szczegóły.
Nie pokazuj tego więcej

Deklaracja dostępności