SOWA OPAC : Katalog komputerowy książek, czasopism i zbiorów specjalnych

1 wynik

Książka

W koszyku

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość / Stanisław Adamczak. - Wydanie I. - Warszawa : PWN, copyright 2023. - 436 stron : fotografie, ilustracje, wykresy ; 24 cm.

Autor

Adamczak Stanisław (1948- ).

Forma i typ

Książki Publikacje dydaktyczne Publikacje fachowe Publikacje naukowe

Odbiorca

Szkoły wyższe Inżynierowie

Temat

Części maszyn Metrologia wielkości geometrycznych Struktura geometryczna powierzchni

Gatunek

Podręcznik

Dziedzina i ujęcie

Inżynieria i technika

Bibliografia, wykaz norm na stronach 420-432.

Dla metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowgo czy specjalistów projektowania przemysłowego, studentów kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inzynieria medyczna czy logistyka.

Ogólne sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni Sposób przybliżony Sposób mechaniczno-geometryczny Sposób wykorzystujący filtrację elektryczną Sposób z wykorzystaniem filtru odcinającego Sposób z wykorzystaniem analizy falkowej Tolerancje geometryczne Zarysy kształtu Zarysy odnoszące się do kierunku Zarysy odnoszące się do położenia elementu Zarysy odnoszące się do bicia Zamknięte zarysy okrągłości i falistości powierzchni Metody oceny zarysu okrągłości Analiza harmoniczna Parametry oceny zarysów okrągłości Parametry zarysów okrągłości według najnowszych norm Metody pomiaru zmian promienia Błędy przyrządów pomiarowych Nadzór metrologiczny przyrządów Program komputerowy ROFORM Komputeryzacja przyrządów pomiarowych Przykłady wyników pomiarów okrągłości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości Zasada pomiaru w metodach odniesieniowych Rodzaje metod odniesieniowych Zalecane parametry metod odniesieniowych Transformacja zarysu zmierzonego na zarys rzeczywisty Komputeryzacja metod odniesieniowych Program komputerowy SAJD Przybliżona metoda oceny odchyłki okrągłości Istota odwróconych odniesieniowych metod pomiaru Odniesieniowe metody pomiaru do oceny falistości powierzchni dla zarysów zamkniętych Zarysy walcowości Pomiary zarysów walcowości ustalane metodą oceny zmian promieni Parametry oceny zarysów walcowości Dodatkowe parametry oceny zarysów walcowości Strategie pomiarowe Ocena zarysów walcowości – zasady prowadzenia pomiarów Eksperymentalna weryfikacja opracowanych strategii pomiarowych zarysów walcowości Komputeryzacja przyrządów pomiarowych Program komputerowy CYFORM Pomiary zarysów walcowości metodami odniesieniowymi Istota pomiarów zarysów walcowości Koncepcja odniesieniowych pomiarów zarysów walcowości Określenie zależności między zarysem zmierzonym a rzeczywistym Współrzędnościowe pomiary zarysów walcowości Zarysy prostoliniowości Parametry oceny zarysów prostoliniowości Filtrowanie zarysów prostoliniowości Technika pomiarów zarysów prostoliniowości Program komputerowy LIFORM Badania eksperymentalne Ocena mikro- i nanochropowatości oraz falistości powierzchni Pomiary profilu Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych Zasady i warunki prowadzenia pomiarów Wzorce kontrolne i użytkowe Komputeryzacja przyrządów do pomiaru falistości i chropowatości powierzchni Pomiary przestrzenne Parametry oceny powierzchni w układzie 3D Parametry związane z funkcyjnym przedstawieniem powierzchni w układzie 3D Wzorce przestrzennych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni Kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu Istota kompleksowych pomiarów zarysów niedomkniętych Program komputerowy PROFORM Kompleksowa ocena zarysu Ocena profilu chropowatości powierzchni Ocena profilu falistości powierzchni Ocena zarysu kształtu Statystyczna analiza wyników pomiaru Przykładowe kompleksowe pomiary zaczerpnięte z praktyki przemysłowej Statystyczne badania porównawcze przyrządów Eksperymentalny błąd pomiaru dla porównywanych przyrządów Statystyczne wyznaczenie błędu pomiaru odniesieniowych metod pomiarów zarysów okrągłości dla wybranych próbek z uwzględnieniem wartości odchyłki okrągłości Procedury estymacji i testu istotności dla wartości średniej eksperymentalnego błędu pomiaru

Procedury estymacji i testu istotności dla wariancji i odchylenia średniego eksperymentalnego błędu pomiaru Oszacowanie przedziału ufności pojedynczego błędu pomiaru Ocena przykładowych wyników statystycznego testowania błędu pomiaru skomputeryzowanego odniesieniowego przyrządu pomiarowego z wzorcowym przyrządem Talyrond 73, którego działanie oparto na metodzie pomiaru zmian promienia Metoda statystycznego porównywania zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego Procedura estymacji punktowej współczynnika korelacji Przykładowa ocena wyników badań statystycznych porównywanych zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego Przyrządy pomiarowe Ogólne informacje dotyczące elementów budowy i charakterystyki narzędzi pomiarowych Klasyfikacja przyrządów pomiarowych do pomiarów profilu Definicje dotyczące analizowanych profili Elementy składowe przyrządów stykowych Charakterystyki metrologiczne przyrządów Przykładowe wartości nominalne niektórych charakterystyk przyrządu Metody przestrzennego pomiaru powierzchni Metody profilowania liniowego Metody topografii przestrzennej Eksperymentalne porównanie wybranych metod przestrzennego pomiaru chropowatości powierzchni Odniesieniowe przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości Przegląd niektórych rozwiązań odniesieniowych przyrządów pomiarowych Rozwiązania oryginalnych pryzm wykorzystywanych do pomiarów odniesieniowych zarysów okrągłości Przyrząd do uzyskiwania wzorców zarysów okrągłości Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości metodą pomiaru zmian promienia (bezodniesieniowe) Rozwiązania konstrukcyjne stosowanych zespołów obrotowych wrzecion czujników pomiarowych Rozwiązania konstrukcyjne stołów obrotowych Przegląd przyrządów pomiarowych do oceny zarysów okrągłości Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów walcowości . Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym wrzecionem Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym stołem Przegląd przyrządów do pomiaru zarysu walcowości i innych błędów powierzchni Przyrządy stykowe do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni Profilometry Kształtografy . Przyrządy profilometryczne do kompleksowych pomiarów Przyrządy optyczne

Sygnatura czytelni BMW: VII W 37 (nowy)

Sygnatura czytelni BWEAiI: IX F 58

dostępna do wypożyczenia

Ta pozycja znajduje się w zbiorach 3 placówek. Rozwiń listę, by zobaczyć szczegóły.

Wypożyczalnia

Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 154462 N, 154465 N, 154464 N, 154466 N, 154463 N (5 egz.)

Biblioteka Międzywydziałowa

Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 154468 N (1 egz.)

Biblioteka WEAiI

w opracowaniu: sygn. 154467 N (1 egz.)